摘要：互连测试对于电路板的生产和维护具有重要意义.针对现有互连故障检测BIST(built in self test)实现方法存在测试时间长、硬件开销大等问题,本文提出了一种改进的BIST结构,并阐述了其各组成部分,即查找表(look-up table,LUT)、测试向量生成器(test pattern generator,TPG)、输出响应分析器(outputresponse analyzer,ORA)的设计过程.该实现方法可在保证高故障检测率的前提下,降低硬件开销,缩短测试时间,同时还可避免多驱动器冲突,使测试能够安全进行.

摘要：针对FPGA互连开关的常开、常闭、线段的开路、常0、常1故障,以及连接于同一开关矩阵的互连线段桥接故障的测试诊断问题,提出一种自动生成与应用无关的测试配置进行故障诊断的方法。通过对布线资源图中节点分方向遍历、生成全局和局部测试配置,用JTAG施加测试激励和回读结果。实验结果证明只需要较少配置时间就能够使互连故障覆盖率达到100%。

摘要：基于芯粒的2.5D和3D集成系统产品都具有大量的芯粒间互连,不可避免地会出现各种制造缺陷,互连测试对于提高2.5D和3D集成系统产品规模生产过程中的质量和产量至关重要。在研究传统的I-ATPG和真/补测试算法等互连测试方法的基础上提出了一种新的代码字编码方法,只需要4个代码字即可对所有矩形网络和六角网络进行代码字编码。设计了一种基于IEEE1838标准的芯粒集成系统测试架构,给出了一种典型的双芯粒互连电路并进行了测试和仿真验证,以系统性地介绍芯粒间互连测试技术。

摘要：互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连测试矢量生成的设计;利用SQLite数据库中存储的被测电路的扫描链路信息和器件等信息,得到扫描粗链并进一步形成扫描细链;利用可测网络信息结合测试算法产生测试矢量;最终将测试矢量在扫描细链上对扫描单元赋值即得到扫描链的互连测试矢量集;测试结果表明,该设计可快速生成测试矢量而缩短测试时间,具有较好的应用前景。

摘要：边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点,主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。

摘要：复旦大学研制的类蜂巢结构快速样机平台(HLRESP)采用模块化结构,可以灵活配置和选择功能模块,而扫描链路的设计,以及扫描链路的完整性测试和互连测试对平台极为重要,为了满足该系统的测试和调试的需要,该文设计并实现了一个基于Eclipse平台的边界扫描测试软件。该软件能够自动生成测试向量,分析响应数据并准确定位故障。

摘要：SN74ACT8990作为测试总线控制器,主要用于测试数据的交互,是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件;为了解决上述新兴测试技术在实际应用方面研究的不足,首先介绍了芯片的功能、基本结构以及工作原理;从硬件电路和程序设计两个方面,分别详细地介绍了一个典型的基于SN74ACT8990边界扫描测试系统的设计方法及过程;最后利用测试指令扫描和互连测试对设计的测试系统进行了功能验证;结果表明,在数字电路测试中,采用基于SN74ACT8990的边界扫描技术能够准确地定位故障,并能初步判断故障类型,具有较高的测试效率和广阔的应用前景。

摘要：测试矢量是边界扫描技术的关键之一,测试矢量集直接影响测试的效率和结果。文章将遗传算法引入可测性设计中的边界扫描测试领域,以PCB、MCM等为工程对象,探索了遗传算法的互连测试矢量生成,提出了具有互连测试特性的适应度函数、遗传算子和遗传操作,并进行了仿真实验和实际的DEMO板测试,结果表明该算法具有一定的优越性。

摘要：在FPGA的设计生产过程中,FPGA的测试是一个至关重要的环节。分析了基于SRAM配置技术的FPGA的结构组成及FPGA的基本测试方法。针对6000门可编程资源的FPGA,提出了一种基于阵列和长线线与测试CLB以及采用总线测试开关矩阵相结合的方法。该方法较利用与门或门传递错误信息的所需测试配置次数减少了一半,从而加快了测试速度。

摘要：为检测以超大规模集成电路为核心的电子设备,设计了基于边界扫描技术的电路测试系统。对超大规模集成电路进行板级测试,并提出在互连网络两端的边界扫描单元分别做输出操作的针对互连测试和簇测试过程的测试方法。测试结果表明:利用该方法,提高了超大规模集成电路板级故障的分辨能力,获得了更好的测试效果。