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MUX中的信号串扰分析及其分组分层设计
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《华南理工大学学报（自然科学版）》2001年 第12期29卷 10-13页
作者：张征平 任震 黄雯莹华南理工大学电力学院广东广州510640 
多路模拟开关 (MUX)广泛应用在各种智能仪器之中 ,MUX的特性对智能仪器的性能有很大影响 .本文对MUX中所存在的固有的信号串扰缺陷进行了比较详尽的理论分析 ,并且针对这种缺陷提出了MUX分组分层、信号错位的设计方案 ,从而基本消除了在...
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