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电路可接受域窗函数及样本点一阶矩轨迹
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《石家庄铁道大学学报（自然科学版）》1990年 第3期18卷 55-60页
作者：高蒙 杨庆芬石家庄铁道学院机械系 石家庄铁道学院基础部 
本文由大样本抽样效应,提出了电路可接受域的正态窗模型,导出了电路指标约束在元件参数空间映射的正态窗函数;提出了一阶矩轨迹的概念,并由此导出了中心值设计的叠代方程。与国外有关文献比较,本文导出的方法可使设计改善,并节省机时。
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