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检索条件"主题词=光刻设备"
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光刻设备运输中的并联结构减振方案分析
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《集成电路应用》2023年 第2期40卷 303-305页
作者:宋兴龙上海微电子装备(集团)股份有限公司上海201203 
阐述光刻设备中的大型精密设备运输减振需求,设计了基于钢丝绳弹簧并联结构的运输减振方案,可以满足运输过程中冲击<5g减振需求。探讨钢丝绳并联结构的动力学特性,获得不同参数下系统的减振特性,针对运输减振方案中的结构进行强度仿...
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UV-LIGA光刻设备研究
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《电子工业专用设备2000年 第4期29卷 26-29页
作者:余国彬 姚汉民 胡松 王兆志 林大健中国科学院光电技术研究所四川成都610209 
近几年来微型机电系统 (MEMS)的研究得到了高速的发展 ,而MEMS的工艺基础是微细加工技术。针对电铸 (LIGA)技术所存在的缺点提出了紫外光电铸(UV -LIGA)技术 ,并研制了用于UV -LIGA技术的光刻设备。其中介绍了整机的设计要点、所解决的...
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极紫外光刻新技术问世
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《电子质量》2024年 第8期 75-75页
据报道,日本冲绳科学技术大学院大学(OIST:Okinawa Institute of Science and Technology Graduate University)设计了一种极紫外(EUV:Extreme Ultra-Violet)光刻技术,超越了半导体制造业的标准界限。基于此设计的光刻设备可采用更小的...
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用于0.25μm线宽设计规则的光刻设备——PAS5500/300
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《LSI制造与测试》1997年 第4期18卷 68-68页
作者:袁群毅 叶日东 
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双重图形光刻设备
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《集成电路应用》2009年 第1期26卷 49-49页
Twinscan NXT平台在套刻精准和生产效率上有了重要的改进,适合更为先进的光刻工艺,包括双重图形技术。它包含了一个新的平坦的晶圆载物台设计和一个比上几代产品更轻的晶圆载物台,生产效率实现超过30%的提升。另外,新的定位测量系...
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高精度机器视觉对准测量系统设计
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《电子工业专用设备2014年 第5期43卷 33-37页
作者:徐兵 周畅上海微电子装备有限公司上海201203 
设计了用于半导体先进封装光刻设备中的高精度机器视觉对准测量系统,明确了机器视觉对准测量系统工作原理、设计指标及系统设计中需要考虑的关键技术点,同时给出了机器视觉对准测量系统关键零部件的设计,并给出了对准测量系统最终在整...
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先进位置编码器技术提升光刻工艺水平
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《数控机床市场》2019年 第3期 69-71页
作者:雷尼绍不详 
光刻技术,顾名思义就是一种用光刻印的技术,它广泛应用于半导体制造行业以及许多其他纳米技术应用中;为适应当今微电子产品日趋微型化的趋势,相关应用领域越来越需要具备高生产能力的光刻设备,,本文主要探讨了位置反馈技术在现代光刻工...
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450毫米晶圆2018年量产 极紫外光刻紧随
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《半导体信息》2013年 第3期 37-38页
作者:郑冬冬 
全球最大的半导体制造设备供应商荷兰ASML近期披露说,他们将按计划在2015年提供450毫米晶圆制造设备的原型,Intel、三星电子、台积电等预计将在2018年实现450毫米晶圆的商业性量产,与此同时,极紫外(EUV)光刻设备也进展顺利,将在今年交...
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EVG展出最新掩模对准曝光机EV6200 INFINITY
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《电子与封装》2005年 第4期5卷 46-47页
作者:刘林发 
在晶圆键合光刻设备领域领先的EVG近日在SEMICON China 2005展出了其最新的EVG6200 Infinity掩模对准曝光机,该机可以在近距离对很厚的整个阻光层近距离曝光,是针对先进的封装市场而设计的,它可以通过升级安装底部显微镜,用于MEMS...
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底面对准曝光机对准系统设计
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《微纳电子技术》2002年 第10期39卷 40-44页
作者:严伟 王肇志 姚汉明 胡松中国科学院光电技术研究所四川成都610206 
微电子技术的不断发展,对光刻设备精度的要求越来越高,特别是在一些特殊器件的制作领域,要求基片多次曝光后必须达到较高的套刻精度。目前国内外有多种比较成熟的对准技术来满足这一要求,其中底面对准技术作为非常有效的一种而倍受青睐...
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