摘要：目前,关于嵌入式存储器的内建自测试(MBIST)技术已经日趋成熟。基于这种背景,研究了一种高效的内建自修复(MBISR)方法,试验表明它具有低面积开销和高修复率等优点,保证了嵌入式存储器不仅可测,而且可修复,极大地提高了芯片的成品率。

摘要：嵌入式存储器在SoC技术中逐渐成为主体设计结构,由于存储器存在成品率的问题,所以在存储器中设计了内建自测试和内建自修复的策略来解决,其中主要是:基于冗余行的修复策略、基于冗余列的修复策略和基于冗余字的修复策略,然而,在存储器中采用一维冗余块修复策略需要增加更多的冗余块,如果采用二维冗余块修复虽然提高了修复率,但是使得其稳定性和可靠性降低了,为此改进了一种基于DWL修复概念的策略,使其不仅保持了DWL结构的低功耗、提高了冗余资源的利用率,而且快速访问的特性,从而提高了存储器的故障修复率。

摘要：三维存储器成品率是评价冗余共享策略的一个重要指标。为了提高三维存储器的成品率和冗余资源利用率,提出了一种全新的故障交叉聚类技术,不仅能实现故障单元垂直方向上的跨层聚类,还可以跨层聚类到相同存储阵列索引的非垂直方向位置,更多的故障单元被聚类到其他层中,从而使用一个冗余行可以修复更多的故障。此外,根据故障交叉聚类策略重新设计了内建自修复结构和读写控制器,对数据重新组合来保证数据正确的输入或输出。实验结果表明,相比于现有的修复方案,该内建自修复方案仅增加了0.43%的面积开销就有效的提高了三维存储器的成品率。

摘要：提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷引起的成品率损失。电路模拟表明,面积代价和时间代价是可接受的。

摘要：随着缺陷密度的增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元已成为提高存储器成品率的常用方法.然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低、冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构.针对此,提出了利用内容可寻址技术结合冗余行和冗余列来修复存储器的方法.该方法中,内容可寻址存储器不仅用于存储修复信息,还被用于当作冗余字替换故障字实现字修复,而冗余行和冗余列则分别用于修复行或列地址译码故障;并在译码逻辑输出端设计控制电路,避免对已修复的故障字进行访问.文中方法简单易行、面积开销小、利于扩展且修复效果好.实验结果表明,该方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和内容可寻址存储器面积开销最小约为已有二维冗余修复方法的20%.

摘要：嵌入式存储器是SOC设计中最常用的核，其测试和修复功能可以大大提高芯片的良率。一种存储器行修复的内建自修复结构，包括BIST控制电路、BISA自分析电路和EFUSE可编程熔丝。通过项目实例证明了该结构的可行性。该结构减少了外部测试接口及测试成本，适用于其它SOC芯片设计。