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检索条件"主题词=功能成品率"
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集成电路功能成品率的研究
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《宝鸡文理学院学报（自然科学版）》1999年 第3期19卷 39-42页
作者：赵天绪 何广平 姜晓鸿 郝跃宝鸡文理学院数学系陕西宝鸡721007 西安电子科技大学微电子研究所陕西西安710071 
集成电路功能成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计中的重要内容。本文主要对导致成品率下降的缺陷的轮廓模型和集成电路的功能成品率的研究作了简单介绍。
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VLSI成品率预测与仿真
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《电子学报》1999年 第2期27卷 55-58页
作者：郝跃 林锐 马佩军西安电子科技大学微电子所 浙江大学CAD&GC实验室 
本文建立ＩＣ光刻工艺相关缺陷计算模型和基于ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ统计成品率计算模型．阐述了集成电路功能成品率仿真系统ＸＤＹＥＳ实现，讨论了应用ＸＤＹＥＳ实现功能成品率设计，并给出该系统实用性验证．研究分析表明，其结...
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半导体技术
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《中国无线电电子学文摘》1997年 第5期13卷 41-50页
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