摘要：在集成电路的可靠性筛选试验中,老炼试验是最重要和最有效的试验。针对静态老炼和传统动态老炼方式的局限性,提出了一种DSP芯片动态老炼系统的设计与实现方法。该动态老炼系统实现了老炼程序自动加载,可以实时监测每个工位老炼试验情况,将老炼过程中发现的失效电路及时剔除,试验结果可以自动存储,便于后期进行试验结果分析。相比静态老炼和传统动态老炼方式,该系统测试覆盖率更高,提高了产品可靠性。

摘要：对FPGA进行动态老炼试验是有效提高FPGA使用可靠性的方法之一,本文以XILINX公司的FPGA器件XC6SLX45-3CSG324I为例,从FPGA的动态老炼方案、老炼设备选择和老炼板设计等方面介绍了FPGA器件动态老炼试验方法,该方法具有通用性,可为实现其他FPGA器件的动态老炼试验提供借鉴。

摘要：CPU、DSP等大功率集成电路在动态老炼试验时,其壳温迅速升高,无法保持在老炼所需规定的温度范围内,致老炼试验不能严格按要求进行.针对此问题研制了大功率集成电路动态老炼自动温度控制器：包括温度采集、风扇自动控制、主控和显示电路等模块,受试器件的壳温能通过风扇自动控制在一定温度范围之内.并按GJB 548B标准中的动态老炼要求进行了试验验证.试验结果表明,壳温控制准确有效（如85～90℃,温度区间可自由设置,显示精度：0.1℃）,温度显示实时直观.

摘要：近年来，随着DSP在军工和航天领域的应用，用户对DSP器件的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性筛选试验中，动态老炼试验是最重要的试验之一，DSP动态老炼技术的实现可以提高DSP器件的可靠性。设计了一种DSP动态老炼的实现方法，以TMs320LF2407APGEA器件为例，从设计方案、应用程序开发以及老炼板可靠性设计等几个方面进行了论述，此设计实现方法在工作实践中得到了成功实现和运用。

摘要：中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、数字信号处理系统(Digital Signal Processing)等大功率集成电路在进行动态老炼试验时,由于功率会产生较大热量,温度在短时间内升高显著,超过老炼所能够负荷的温度范围内,导致老炼试验无法有序进行。因此,许多厂商为了预防这一问题的出现,开发并研制出大功率集成电路动态老炼自动温度控制器,其具有采集温度、控制风扇等功能,通过显示屏以及控制按钮进行操作,并将温度控制在老炼试验能够负荷的范围内。