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检索条件"主题词=半导体测试"
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微机化DLTS-CV组合半导体测试系统
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《微电子学与计算机》1989年 第2期6卷 8-12页
作者:邵志标 郑美珍西安交通大学电子工程系 
DLTS和CV测试相结合可以对半导体的表面、界面性能及深能级杂质进行定量研究.本文主要介绍DLTS测试方法及微机化DLTS-CV组合测试系统的软、硬件设计.
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针对高功率半导体测试的数字源表
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《今日电子》2011年 第6期 67-68页
2651A型高功率源表专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于各种各样的研发、可靠性及生产测试应用至关重要,例如测试高亮度LED(HBLED)、功率半导体
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吉时利推出专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表
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《电子测量技术》2011年 第4期34卷 109-110页
吉时利仪器公司(NYSE:KEI),作为全球先进电子测试仪器和系统的领先制造商,日前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表(SystemSource Meter)仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供业内可用的最宽电流...
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吉时利推出专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表
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《电子测试2011年 第5期22卷 110-111页
吉时利仪器公司日前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter)仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于各种各样的研发、可靠性及生产测试应用至关...
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吉时利推出专对高功率半导体测试优化设计的数字源表
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《中国集成电路》2011年 第5期20卷 8-9页
吉时利仪器公司目前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表(System Source Meter)仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于各种各样的研发、可靠性及生产测试应用至关...
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面向半导体测试行业的MES系统的设计与实现
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《信息技术与信息化》2016年 第12期 55-59页
作者:陆灿楠 叶桦 仰燕兰不详 东南大学自动化学院江苏南京210096 
当前,中国装备制造类企业已经进入微利时代,要想保持较好的利润,企业必须进行信息化改造,努力提高生产计划环节和生产执行环节的沟通力度,提高企业的整体生产效率。制造执行系统MES作为上层企业资源计划ERP和底层过程控制系统PCS的沟通...
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吉时利推出针对高功率半导体测试优化设计的数字源表
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半导体技术》2011年 第5期36卷 416-416页
2011年4月15日,吉时利仪器公司,日前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表(system source meter)仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于各种各样的研发、可靠性...
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吉时利推出专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表
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《现代仪器》2011年 第3期17卷 96-96页
吉时利仪器公司日前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计,组合了精密电压和电流表。
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吉时利推出专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表
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《世界电子元器件》2011年 第5期 65-65页
作者:韩霜 
吉时利仪器公司日前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter)仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供宽电流量程。
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吉时利推出专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表(System SourceMeter)
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《仪器仪表标准化与计量》2011年 第2期 I0005-I0005页
吉时利仪器公司作为全球先进电子测试仪器和系统的领先制造商。
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