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检索条件"主题词=双应力加速寿命试验"
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数控印制电路板加速寿命试验与统计分析
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《华中科技大学学报（自然科学版）》2013年 第12期41卷 1-6页
作者：解传宁 唐小琦 金健 张航军华中科技大学机械科学与工程学院湖北武汉430074 
针对影响数控印制电路板寿命的温度应力和线路设计因素,通过对印制电路板进行失效分析,探讨印制电路板寿命与温度和导线间距的关系,进而从失效机理角度推导出数控印制电路板综合应力作用下的加速寿命试验参数模型.基于统计检验方法,利...
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