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检索条件"主题词=双管显微镜"
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双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计
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《四川大学学报（工程科学版）》2001年 第5期33卷 98-101页
作者：蒋大文 王志远 谢驰 王晓辉 杨大磊四川大学测试技术与控制工程系四川成都610065 
介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法 ,同时 ,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。从而 ,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能 ,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求。还给出了程序流...
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