摘要：简要分析了某型飞机光电雷达的工作过程,给出了基于虚拟仪器技术的光电雷达综合参数检测设备的软、硬件设计,重点阐述了可测试性设计在系统设计中的一般过程,以及在本设备中的应用.机内测试技术(B IT)在本设备中的应用,使设备内部具备检测和隔离故障的自动测试能力,从而有效地提高研制设备的可维修性、可用性、可靠性.

摘要：近20年来,为了解决结构日益复杂的电路测试问题,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中,针对不同的测试对象,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化,降低总体代价,是非常重要且亟待解决的问题。本文应用图论对可测试性技术中的两类典型优化问题进行了描述,并讨论了其最优解的求解过程。鉴于最优解的求解过程过于复杂,为便于工程应用,本文基于"贪婪"策略,分别构造了求解两类问题快速解法,并通过简单实例予以了验证。

摘要：为提高机载光电成像系统的可测试性,对该设备进行了全面的可测试性系统设计。可测试性系统由自测试系统、测试信息口、外部测试系统3部分组成。采用模糊理论与专家系统相结合的方法,解决了目前产品普遍存在的可测试性设计考虑不足、自动化程度不高、故障诊断不到位等问题。实验显示,可测试性系统设计的设备故障诊断率达97%以上,说明在可测试性设计中采用模糊理论与专家系统相结合的方法是行之有效的。

摘要：本文将从边界扫描路径,测试体系结构,测试状态定义,测试指令安排与板级测试策略五个方面,介绍VLSI电路可测试性设计的JTAG方式.

摘要：近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问题 ,首先应用图论方法建立问题的拓扑描述模型 ,然后通过构造相应的逻辑求解函数 ,给出问题最优解的求解算法 。

摘要：本文提出了一种基于知识的可测试性设计(DFT)方法。系统在“专家”知识的指导下,实现了分类的DFT。该方法采用选择跟踪插入测试点,几乎在线性时间内实现了可测试性的较优改进。该方法具有的自学习能力大大减小了DFT的计算量。

摘要：针对同步时序电路提出一种结合了插入可观测点的部分复位方法 ,该方法是基于迭代计算的电路状态信息和冲突分析测度而提出的 .根据基于电路状态信息的测度和冲突分析所选择出来的部分复位触发器 ,可以割断电路中的关键回路 ,使得电路容易被初始化 ,同时减少在时序ATPG中的潜在冲突 .以前的部分复位方法中 ,部分复位的触发器不能由独立的复位信号所控制 ,这也是不能彻底改善可测试性的一个重要原因 .当部分复位触发器可以由独立的复位信号所控制时 ,电路的可测试性会显著提高 .该文提出了一种新的可测试性结构来设计部分复位触发器 ,该方法同时减小了在管脚。

摘要：研究了某型飞机导航计算机系统结构与信息交联关系,着重从系统可测试性设计的角度出发,采用DSP+FPGA 为核心的方案完成了该计算机样机设计,系统的地面联试结果证明了系统的设计是合理的。

摘要：CMOS器件进入深亚微米阶段,VLSI集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在制造、设计、封装、测试上都面临新的挑战。测试已从IC设计流程的后端移至前端,VLSI芯片可测试性设计已成为IC设计中必不可少的一部分。本文介绍近几年来VLSI芯片可测试性设计的趋势,提出广义可测试性设计(TDMS技术)概念,即可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计,并对可调试性设计方法学和广义可测试性设计的系统化方法作了简单介绍。

摘要：针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求。