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唯象疲劳模型在光纤方面的应用
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《光纤与电缆及其应用技术》2000年 第4期 17-25页
作者：李永华 冯正蓉化工部涂料工业研究设计院甘肃兰州730020 信息产业部电子第二十三研究所上海200437 
本文利用 Si- O键离解的唯象系统解释稳定开裂速度和动态、静态疲劳现象 ,其结果具有指数形式并适应于不同大小的缺陷、工作应力和试验环境。而且通过保留指数函数展开式的第一项简化为指数定律。本模型从疲劳的角度 ,为比较不同光纤的...
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