摘要：鉴于碳化硅材料在集成电路领域的巨大优势,为进一步提高电路研发生产水平,形成高效而完善的器件测试流程,以某款碳化硅器件为测试对象,为其专门设计一套测试方法。方法基于对碳化硅材料的特性与工作原理的分析,合理选取测试条件与测试设备,并实际进行测试,获得击穿电压、正向电流、结电容等参数的详细数据。测试结果表明,方法能够准确把握该类碳化硅产品的关键参数指标,符合行业标准,具有一定的实用价值。

摘要：浪涌电流试验是二极管及晶闸管等相关电力半导体器件测试的重要检测。本文基于LabVIEW平台通过程序设计实现浪涌测试自动化。

摘要：半导体器件应用于不同的领域,其加工工艺和测试分析对于保证器件的性能具有重要意义。本文在分析了半导体器件生产工艺流程上,结合其测试发展现状和测试参数,对半导体器件的生产和测试基本问题进行了讨论,同时对其工艺设计过程及方法也进行了分析。

摘要：ETS-200T/FT（成品测试）是专为分立器件测试而设计的,特别针对在旋转式和其它转位并行式的机械分选机上测试的功率场效应管（Power FET）。ETS-200T/FT是使用Eagle提供的转位并行架构来提供功率场效应管的测试方案,最多支持5个测试站,每个测试站可以测试不同的测试项目,并且能够覆盖直流参数、交流参数、

摘要：尽管无源器件的概念很乏味,但要把有关器件测试的内容写下来,仍然会是厚厚的一本书或一系列长文章.鉴于一篇文章的内容有限,不可能容纳这么多内容,所以比较好的办法是在无源器件的茫茫大海中挑选一个小子集,或者是电子工程师测试有选择类型器件的少数几类仪器.

摘要：随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。

摘要：这两款多通道电源带有GPIB接口,通过GPIB接口,在研发和生产测试应用中可以更好地满足控制和通信灵活性的要求。同市场同类产品相比,2220G-30-1双通道电源和2230G-30-1三通道电源具有更高的输出精度和更低的价格。

摘要：对模拟开关、多路复用器、运算放大器和其它IC的评估是对IC测试工程师提出的挑战。典型的测试需要把测试电压或强制电压施加到器件的输入端，并测量导致的任何泄漏电流和偏移电流，这经常是在1pA或更低的级别进行的。图1、图2、图3中的低功耗测量电路与缓慢而昂贵的商品化自动测试仪形成了鲜明对比，这种电路能强制很宽的测试电压范围并提供快速稳定．使器件测试吞吐速度达到最高。表面贴装元件的广泛使用使它的印制电路板空间要求降到了最低．并使多个测量电路的封装能靠近测试夹具。

摘要：为了探索声表面波器件制作工艺,在压电器件工作原理的基础上,通过设计声表面波器件的工作频率、叉指宽度、间隙及对数等器件参数,绘制了掩模板,对制作的声表面波器件进行测试,制作了不同叉指对数、孔径长度、中心距离的电极.实验结果表明:以石英为基底,使用EPG533型光刻胶在前烘温度为105℃,曝光时间为8s,显影时间为50s时获得了较理想电极图形和稳定的实验参数.

摘要：本刊讯：2011年3月16日，安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出新的LTE设计验证和一致性测试系统。三款新系统将扩展Agilent GS-8800手机设计验证和一致性测试系列，帮助工程师进行LTE器件测试，以确保产品符合TS36．521—1标准。三款系统的核心信令引擎均为Agilent E6621A PXT无线通信测试仪。