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检索条件"主题词=塑封微电路"
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塑封微电路筛选鉴定和DPA技术的研究
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《半导体技术》2008年 第12期33卷 1108-1111页
作者:林湘云 来萍 刘建 李少平信息产业部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室广州510610 
由于塑封器件结构和材料等因素,存在非气密性、易受温度形变等特有潜在缺陷。有效的筛选和鉴定已经成为检验塑封微电路(PEMs)质量和提高应用可靠性的关键。DPA作为产品质量检验与可靠性评价技术,能提供PEM生产与设计、工艺和制造缺陷的...
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PEM老炼过程中的温度闭环控制系统
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《清华大学学报(自然科学版)》2016年 第3期56卷 294-298页
作者:白冰 王伟明 李青峰 李路明清华大学航天航空学院北京100084 
当前,老炼仍被广泛应用于塑封微电路(PEM)的可靠性保证。为了解决老炼过程中存在的热失控及温度不一致的问题,该文设计了一套温度闭环控制系统。在由老炼箱自身装置提供箱内基础温度的基础上,设计的温度闭环控制系统以每个封装夹具内的...
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