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基于加速模型的光耦寿命评估技术研究: 收藏
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引用; 《电子产品可靠性与环境试验》2022年第S02期40卷 19-22页; 作者：刘树强何继夫赵鹏飞韩立帅工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所装备与整机研究部广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所广东广州511370; 光耦作为电网中的关键控制部件,其使用寿命直接决定了电网的质量与传输效率,因此,如何评估其使用寿命及技术显得非常重要。以国外某公司的光耦为例,通过分析导致其退化的敏感应力,设计了4组基于湿热的加速寿命试验,并通过数学建模对试...; 光耦作为电网中的关键控制部件,其使用寿命直接决定了电网的质量与传输效率,因此,如何评估其使用寿命及技术显得非常重要。以国外某公司的光耦为例,通过分析导致其退化的敏感应力,设计了4组基于湿热的加速寿命试验,并通过数学建模对试验数据进行了分析。最后,对实际工作条件下的外场寿命进行了外推,结果表明,该方法能够准确地预测光耦寿命,对同类产品寿命评估具有一定的参考作用。; 来源：详细信息评论

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