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一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法
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《计算机学报》2014年 第7期37卷 1508-1520页
作者：肖杰 江建慧 朱旭光浙江工业大学计算机科学与技术学院杭州310023 同济大学软件学院上海201804 
纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算...
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