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车规级功率器件的封装关键技术封装可靠性研究进展
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《半导体技术2024年 第8期49卷 689-701页
作者:武晓彤 邓二平 吴立信 刘鹏 杨少华 丁立健合肥工业大学电气与自动化工程学院电能高效高质转化全国重点实验室合肥230009 合肥综合性国家科学中心能源研究院合肥230051 南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司南京211106 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室广州511370 
半导体技术的进步推动了车规级功率器件封装技术的不断发展和完善,然而车规级功率器件应用工况十分复杂,面临高度多样化的热循环挑战,对其可靠性提出了更高的要求。因此,在设计、制造和验证阶段都必须执行更为严格的高功能安全标准。综...
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