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检索条件"主题词=工作波长"
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工作波长193纳米投影光刻物镜研究设计
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《微细加工技术》2001年 第2期 24-26,52页
作者:陈旭南 罗先刚 林妩媚 余国彬中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室成都610209 
介绍工作波长为 1 93nm的投影光刻物镜研究设计 ,对波长、数值孔径和分辨力的选择 ,光学结构型式的确定 ,以及材料和试制加工工艺的考虑 ,然后给出一个数值孔径NA =0 .6 2 ,光学结构为双远心的投影光刻物镜设计结果。
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基于聚类的激光器频率稳定性研究
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《工业控制计算机》2024年 第7期37卷 85-87,90页
作者:吴强 陈君航 古龙毅广东工业大学自动化学院广东广州510006 
激光器的频率稳定性和精确控制对于许多应用来说至关重要,包括光通信、光谱分析、激光加工和科学研究。针对温度等环境因素容易导致激光器的激光频率变化,为此设计了一种监控方法,能够快速地监控不同环境干扰下的激光的频率变化。根据Ta...
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落管中双波长测温系统工作波长的优化设计
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《宇航计测技术》2004年 第6期24卷 6-9页
作者:唐韬 李恩普西北工业大学应用物理系西安710072 
根据测量所要求的动态范围、线性度、灵敏度 ,通过数值计算得出落管中双波长温度测量中的工作波长及带宽的最佳范围 ,结合实际情况最终确定工作波长为 1 4 μm和 1 5 5 μm ,其带宽均为 0 0 3μm。
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一种基于多个级联微环的高速多功能电光逻辑门
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《光电子.激光》2014年 第11期25卷 2053-2059页
作者:张鑫 李志全 童凯燕山大学电气工程学院河北秦皇岛066004 
设计了一种基于多个级联微环谐振器的多功能逻辑门。通过选择不同的输入口和输出口,可实现与门/非与门(AND/NOT)、或门/或非门(OR/NOR)和异或门/同或门(XOR/XNOR)6种不同的逻辑运算。每次改变输入口,可同时在两个输出口得到两种不同的...
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实时测温系统波长带宽的优化设计
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《激光杂志》2004年 第6期25卷 70-72页
作者:谢安东 施德恒 王江井冈山学院物理系吉安343009 空军第一航空学院基础部信阳464000 西南技术物理研究所成都610041 
本文在着重讨论系统的测温不确定度及温度分辨力的基础上 ,对其工作波长的带宽进行了优化设计。实验表明 ,采用优化设计的波长带宽之后 ,在测温范围 40 0~ 12 0 0℃内 ,测温不确定度及系统的温度分辨力均符合设计要求。
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磁光式电流互感器性能分析与比较
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《高压电器》2012年 第5期48卷 43-48页
作者:陈豪 李晓明 徐志超 杨玲君武汉大学电气工程学院武汉430072 
通过对基于单光路、双光路以及改进型双光路检测法的磁光式电流互感器(MOCT)工作原理的研究和详细介绍,指出工作波长波动、起偏器与检偏器透光轴交角误差等因素都会对MOCT的输出信号产生影响,分析了当输出信号满足国标中0.2级和0.5级准...
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微角分束偏光棱镜分束角的特性研究
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《激光技术》2017年 第3期41卷 402-405页
作者:付永栋 吴福全 宁贵毅曲阜师范大学激光研究所山东省激光偏光与信息技术重点实验室曲阜273165 
为了了解微角分束偏光棱镜的分束特性,根据冰洲石晶体的光学性质以及光在棱镜入射与出射介面和棱镜中的传播方向,在光正入射的条件下,分析了棱镜的分束角随工作波长的变化关系;在工作波长一定的条件下,分析了入射角对棱镜分束角大小的...
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EMI/EMC自动化工具——实现更好的设计还是带来更多的困惑?
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《安全与电磁兼容》2014年 第4期 9-10页
作者:Bruce ArchambeaultIBM IEEEEMC协会计算电磁学技术委员会(TC9) 
对于设计工程师来说,现在有很多可供选择的自动化EMI/EMC工具,包括: 设计规则查看器——检查印制电路板(PCB)是否满足预设的布板规则; 准静态仿真器——当元件尺寸远远小于工作波长时,可用于提取电感、电容和电阻参数; 快速计算器—...
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Design of polarization insensitive filters with micro- and nano-grating structures
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《Optoelectronics Letters》2014年 第2期10卷 103-105页
作者:王文梁 戎晓红Department of Physics Nanchang University Xuzhou College of Industrial Technology 
For isotropic dielectric thin films, polarization effect is an inherent characteristic. As it will make the performance of optical-electric system go to bad, such polarization-dependent properties are often intolerabl...
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光学测试 光学系统测试与设备
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《中国光学》2005年 第2期 86-87页
TH741.4 2005021458 合肥同步辐射反射率测量装置=Refleetivity measuring device the in National Synchrotron Radiation Laboratory [刊,中]/薛松(中科院长春光机所.吉林,长春(130033)), 邵景鸿…//光学 精密工程.-2004,12(5).-4...
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