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集成电路并行测试适配器设计技术
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《微处理机》2007年 第6期28卷 13-14页
作者：侯政嘉 刘炜 石志刚 吉国凡北京华大泰思特半导体检测技术有限公司北京100088 
重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。
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