T=题名(书名、题名),A=作者(责任者),K=主题词,P=出版物名称,PU=出版社名称,O=机构(作者单位、学位授予单位、专利申请人),L=中图分类号,C=学科分类号,U=全部字段,Y=年(出版发行年、学位年度、标准发布年)
AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
范例一:(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二:P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016
摘要:混凝土在长期荷载作用下的徐变变形与应力作用历史密切相关,常见的徐变计算方法需记录每一步应力变化,占用大量的存储和计算空间,效率低;采用指数形式徐变度函数可利用指数特点建立只记录当前应力的增量递推式,但不适于应用更广泛的非指数函数形式徐变预测模型。应用徐变恢复理论和应力冲量持时函数,建立了不需记录全部应力历史的全量递推方法。采用Visual Fortran语言编制了通用的仿真分析计算程序,给出了具体的程序设计流程。实例分析表明,该方法适于不同类型徐变预测模型和加载模式,也适于实际工程施工至使用全过程的徐变效应分析,满足计算精度,能大幅提高计算效率。最后给出了各类徐变模型相应的计算参数取值建议,便于工程应用。
摘要:便携式无线通信设备使用的电池都具有恢复效应,在非连续放电模式下放电时,电池的能量转换效率明显提高,所以合理设计电池的放电模式对于低功耗无线通信设计具有积极的意义。电池的恢复效应涉及复杂的物理化学反应,不易建立简单实用的数学模型,通过电池放电实验,给出电池在不同放电占空比条件下的性能曲线。实验结果表明,随放电占空比的减小,电池能量转换效率不断提高,但存在放电占空比门限。
摘要:负偏压温度不稳定性效应(NBTI)已经成为影响CMOS集成电路可靠性的一个关键因素,而动态应力条件下的NBTI效应对器件和电路的影响越来越受到关注。对PMOSFET的动态NBTI效应进行了系统介绍,讨论了动态应力条件下NBTI(DNBTI)效应和静态应力下NBTI(SNBTI)退化机理,综述了DNBTI效应的动态恢复机制以及影响因素,最后介绍了NBTI效应对电路的影响。随着器件尺寸的日益缩小,如何提高电路的可靠性变得日益重要,进一步研究NBTI效应对电路的影响从而进行NBTI电路级可靠性设计已成为集成电路设计关注的焦点。
摘要:锂离子电池作为电动汽车的动力电池已经得到广泛的运用。建立符合电池特性的电池模型对电池管理系统(BMS)的开发和设计有重要意义。本文在Thevenin等效电路模型的基础上,考虑放电倍率和寿命衰减等影响因素。放电倍率对电池的外特性有很大的影响,主要表现为电池的倍率容量与恢复效应,KiBaM模型可以模拟这两种效应。综合以上建立改进的电池模型,该模型能够很好地模拟电池的动静态特性,满足仿真精度的要求。
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