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大规模成像电子系统可靠性优化设计: 收藏
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引用; 《仪器仪表学报》2014年第S1期35卷 82-86页; 作者：马天波中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春130033; 为了保证大规模成像电子学系统的可靠性,同时尽可能降低研制成本,本文引入了遗传算法,首先,将大规模电子学系统细化为子系统、模块级的基本串并联形式,进行可靠性计算,综合考虑可选方案,设置约束条件,进行选择、交叉和变异操作找到最优...; 为了保证大规模成像电子学系统的可靠性,同时尽可能降低研制成本,本文引入了遗传算法,首先,将大规模电子学系统细化为子系统、模块级的基本串并联形式,进行可靠性计算,综合考虑可选方案,设置约束条件,进行选择、交叉和变异操作找到最优适应度对应个体,即得到最佳优化方案。实验结果表明,遗传算法能很好的给出最优设计方案,以实际工程为例在节约成本的基础上能保证系统可靠性达到0.993以上,可应用于大规模电子系统可靠性方案设计的选取。; 来源：详细信息评论

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