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检索条件"主题词=扫描设计"
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扫描设计扫描链的优化
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《计算机辅助设计与图形学学报》1996年 第4期8卷 282-287页
作者:叶波 郑增钰复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 
提出了扫描法可测性设计扫描链的优化方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集,用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。
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基于电路状态信息和冲突分析的部分扫描设计
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《电子与信息学报》2004年 第1期26卷 124-130页
作者:向东 刘鑫 徐奕清华大学微电子学研究所北京100084 
该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器。该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息。当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度。...
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SoC设计中的扫描测试技术
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《计算机辅助设计与图形学学报》2005年 第12期17卷 2685-2689页
作者:徐勇军 张伸 张志敏 李晓维中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 
针对SoC的基于IP设计、多时钟域、多用异步逻辑、时钟门控、系统集成等特点,给出了一种层次化的扫描测试结构,并将该方法成功应用于一款具有数百万门级的SoC设计中.实验结果表明,该方法不但可以极大程度地提高芯片的可测试性,保证其测...
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扫描设计中测试逻辑的研究
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《电子测量技术》1998年 第3期21卷 1-4页
作者:肖忠辉 邵寅亮 王磊 商松北京科技大学 北京中庆微数字设备有限公司 
文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99%。
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扫描设计中测试逻辑的研究
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《微电子技术》1998年 第3期26卷 1-5页
作者:肖忠辉 邵寅亮 王磊 商松北京科技大学计算机系北京100083 北京中庆微数字设备有限公司 
本文首先分析了时序元件的不可测因素,介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99%。
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单链扫描可测性设计中存储元件的排序
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《计算机学报》1995年 第8期18卷 598-603页
作者:叶波 郑增钰复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室复旦大学电子工程系 
本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法.采用文迭测试体制和区间法能快速求出最优解.对于确定的测试向量集,用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少.
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内窥镜结合CT扫描设计的外科模板行无瓣上颌窦底提升:6例报导
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《中国口腔医学继续教育杂志》2006年 第3期9卷 42-47页
作者:Wilfried Engelke Meercedes Capobianco 陈琰(译) 林野(校)不详 北京大学口腔医学院北京海淀区中关村南大街22号100081 
目的 上颌窦底提升是可以产生预期结果的常规操作.在有足够骨量的条件下推荐无瓣法种植.萎缩上颌骨的无瓣外科技术是内窥镜辅助上颌窦下侧基底入路窦底提升(SALSA)技术的改进。材料和方法 依靠计算机CT扫描,用商家提供的设计程序...
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部分扫描可测性设计扫描链的构造
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《半导体技术》1997年 第2期13卷 40-45页
作者:叶波 郭辉 郑增钰复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 
提出了时序电路的部分扫描法可测性设计扫描链的构造方法,包括扫描链的选取、扫描链的排序、多链扫描设计三部分内容。采用组合等效电路的方法求测试向量,并用实例进行了验证。模拟结果表明,选取20%~40%的触发器至扫描链,...
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螺旋CT扫描设计与质量控制的临床研究
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《医用放射技术杂志》2004年 第3期 38-39页
作者:吴荣壮 黄魏浙江省义乌市中医医院322000 
CT诊断质量高低的最首要条件取决于前期CT扫描计划工作质量的高低,而CT扫描设计与质量控制会直接影响到CT诊断的准确性,但对多数轴位CT解剖细节的显示,.应在明确临床检查目的前提条件下,尽可能地通过我们的先期精确的CT扫描,最大...
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开关级扫描设计方法研究
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《计算机工程与科学》2001年 第5期23卷 77-79页
作者:李少青国防科技大学计算机学院湖南长沙410073 
本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题 ,给出了一种开关级扫描插入方法 ,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题 ,改进了测试时间问题。
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