摘要：集成电路在测试过程中的测试功耗通常会远远高于集成电路正常工作时的功耗,而过高的测试功耗可能会造成电路损坏或是芯片烧毁。为了降低测试功耗,提出了一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法。首先,对测试集中的测试向量按照无关位含量由多到少进行排序;然后,将测试向量按照海明距离由小到大进行排序;最后,对排序后的测试集进行无关位的合理填充,使得测试向量之间的相关性增大,从而降低测试功耗。以ISCAS’85国际标准电路作为测试对象进行,结果表明,相比于使用优化前的测试集,运用优化后的测试集明显降低了测试功耗。

摘要：针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷,提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位的测试向量产生出相应电路内部节点的响应向量,通过分析测试向量与响应向量之间的关系,给出一些启发式规则并构建相应的有向图,用深度优先搜索方法查找出P×M个有向图的最长公共路径。实验结果表明,最大测试分组中的向量数平均增加了2.2个。

摘要：为了减少集成电路测试数据量,本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法。以使用两个扫描切片作为参考切片为例介绍了对该编码方法进行了介绍。当测试图形的切片与参考切片直接相容或移位相容时,仅使用3或5比特长度的码字对其编码以实现压缩;提出一种参考切片无关位回溯赋值的方法以保证一致性。针对所提出的编码压缩方案设计了相应的解压缩电路。通过实验数据证实了该方案的有效性。