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低开销的软错误免疫寄存器设计
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《国防科技大学学报》2009年 第5期31卷 12-18页
作者：孙岩 高昌垒 李少青 张民选国防科技大学计算机学院湖南长沙410073 
随着工艺尺寸的逐渐缩小,集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加,在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫寄存器对电路敏感部分选择性加固是降低逻辑电路软错误率简单有效的方法。总结了常用的软错误免疫寄存...
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