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检索条件"主题词=时钟树设计"
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基于28 nm工艺数字芯片的时钟树设计
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《天津工业大学学报》2019年 第1期38卷 76-82页
作者:陈力颖 汤勇 吕英杰天津工业大学电子与信息工程学院天津300387 天津工业大学天津市光电检测技术与系统重点实验室天津300387 南开大学电子信息与光学工程学院天津300071 
针对纳米级设计时钟偏移大、时序不容易收敛等问题,提出了一种有效的时钟综合(CTS)优化方案。以28 nm工艺的数字芯片为例,根据其时钟结构特点,将CTS过程分成两步完成。利用这种方法,采用Cadence公司的APR工具Encounter对数字模块进...
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65nm工艺下百万门级芯片的物理设计
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《中国集成电路》2012年 第1期21卷 31-35页
作者:张杰 孙大成中国电子科技集团公司第三十八研究所 
随着集成电路工艺的发展,集成电路后端物理设计变得越来越复杂,遇到了很多新的挑战。本文介绍了一款65nm工艺百万门级芯片的物理设计过程,论述了在布局规划、电源网络规划、时钟树设计、信号完整性、可制造性设计等方面的解决方案,提出...
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一种SoC芯片在Magma Talus下的物理实现
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《中国集成电路》2010年 第4期19卷 53-58页
作者:胡杨川成都三零嘉微电子有限公司 
本文介绍了一种SoC芯片架构,及其在0.18μm CMOS工艺上以Talus为主导EDA工具的物理实现。该芯片包含41个时钟域,4种低功耗工作模式,2个相互隔离的1.8V内部电源域,约有65万个标准单元,94个宏模块,250个pad,合计约900万个逻辑等效门,3600...
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一种130nm工艺芯片的后端版图设计
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《集成电路通讯》2014年 第4期32卷 17-21页
作者:刘成玉 姚芳北方通用电子集团有限公司微电子部苏州215163 
芯片后端设计采用Synopsys公司Astro工具进行自动布局布线,芯片物理验证使用Mentor Graphics公司Calibre进行版图的DRC/LVS等检查,最后使用Star-RCXT进行寄生参数提取并将抽取的网表用于门级与晶体管级的混合后仿真验证。采用SMIC0...
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