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星上单机级电子产品加速寿命试验方法研究
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《质量与可靠性》2013年 第5期 6-9页
作者：董澍 张亮 刘春雷 朱炜中国航天标准化与产品保证研究院北京100071 
简要介绍了加速寿命试验的一般流程及其在单机级航天电子产品中应用的局限;针对航天电子产品长寿命、高可靠、小子样的特点,分析了应用失效率比值法、加速退化法、转化法进行单机级加速寿命试验设计和数据预估的优缺点;研究提出了基于...
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