摘要：随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.

摘要：Y2001-62925-189 0208133CMOS 电路串联电压噪声边限=Series-voltage noisemargin of CMOS[会,英]/Szabo,A.＆ Burkovic,Z.//2000 IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference,Vol 1 of 3:Regional Communication and InformationTechnology.—189～192(E)

摘要：当前设备厂家均已推出符合3GPP R15版本的“CU和DU合设+AAU”形态的64T64R Massive MIMO基站,从目前掌握的设备情况看,其设备功耗与2018年初相比,均有一定的优化,功耗均有所下降。当前主流设备厂家设备功耗参数如表1所示:从表中可以看出,一个三扇区基站,当BBU在S111配置下,其典型功耗较试验网有所下降,典型功耗在3300W以下,最大功耗在5000W左右。AAU功耗的增加是5G功耗增加的主要原因,5G单站功耗约是4G单站的2.5~3.5倍之间,在基站配套建设中,需重点考虑其功耗的影响。