摘要：高速采样技术在雷达信号处理系统中至关重要。在使用多通道串行输出AD芯片进行采样时,AD芯片输出的时钟信号与串行数据信号在传输的过程中获得了不同程度的延时,导致关键路径的时序要求不能够得到满足。为了解决上述问题,提出了一种自适应动态相位调整算法,动态调整时钟和数据的相位关系使其能够在高速条件下正确匹配;设计了基于ADS6445模数转换芯片和Virtex-5 FPGA芯片的采样系统对算法进行验证,经系统测试该算法成功将时钟变化沿对准了数据窗中心位置,大幅度提高了系统采样的准确性和稳定性。经计算,系统的采样数据有效位达到11位以上,满足雷达信号处理对数据精度的高要求。

摘要：制造工艺的快速进步给集成电路设计提供了广阔的空间,而发展较慢的设计能力导致难以对片上资源高效利用。目前,高性能处理器片上Cache普遍占到芯片总面积的一半以上,而如何高效、智能地利用片上Cache空间,构建高性能存储系统是处理器微体系结构研究的重要内容。分析了Cache数据污染和猜测执行对处理器性能的影响,并在此基础上提出一种基于数据Tag有效位分裂的无污染Cache访问控制技术—Pease,将原先D-CacheTag中的一位数据有效位扩展为读数据有效位（RVB）和写数据有效位（WVB）两位,根据RVB和WVB值的不同组合对数据读写访问进行控制。不但充分保留了猜测执行的数据预取性,使污染数据透明化,写入数据时无需对污染数据进行替换操作,消除了污染数据对Cache效率的影响。Pease技术相对于baseline结构来说,IPC的提升幅度为1.05%~8.40%,平均提升4.04%;L1 D-Cache缺失率降低幅度为19.05%~48.16%,平均降低29.66%。

摘要：该文设计了一款12位5.5 MS/s同步全并行-逐次逼近模数转换器(FLASH-SAR ADC)。提出了一种新型单端-差分混合DAC电容阵列,将差分的优势融合到单端SAR ADC中,同时采用分段结构,降低电路面积和功耗。设计了一款跨电压域动态比较器,并采用输出失调校准技术,消除比较器失调电压。根据FLASH ADC和SAR ADC转换的结果进行编码设计,解决了高位和低位输出码组合的问题,并快速处理冗余位,得到最终结果。该设计采用55 nm CMOS工艺实现,在3.3 V模拟电源和1.2 V数字电源下,FLASH-SAR ADC的后仿真有效位达到11.82 bit,信噪失真比为73.12 dB,无散杂动态范围为80.07 dB,总谐波失真为86.22 dB。

摘要：设计了一款用于硅像素探测器读出系统的13 bit、20 MS/s流水线ADC芯片。该芯片的核心模块主要包括乘法数模单元(MDAC)、全差分跨导运算放大器(OTA)、动态锁存器、双相非交叠时钟产生电路等,并采用130 nm CMOS商业标准工艺完成了电路设计与仿真。后仿真结果表明,该ADC性能指标满足项目需求:工作电压为3.3 V,单端输入动态范围为-1~1 V,ENOB约为10.48 bits,SFDR为74.4 dB,SNDR为64.9 dB,SNR为65.1 dB,THD为78.3 dB,总功耗约为79 mW。

摘要：阐述基于Dongbu180nm CMOS工艺,设计一款全差分带有冗余位12bit低速SAR ADC,相对于传统二进制电容阵列ADC,高位冗余分裂对建立误差、电容匹配性具有容错性,同时可以带来ADC性能上的提升。该ADC工作电压1.2V,设计精度分辨率为12bit,采样频率200ks/s。仿真结果表明有效位数达到11.4bit。

摘要：阐述基于SMIC 55nm CMOS工艺,设计了一款应用于MCU系统中的数模转换器。该MCU主要应用于电机马达控制领域,对MCU中ADC也有相应的要求。低功耗要求下,采用了逐次逼近型数模转换器(SAR ADC)。该ADC工作电压3.3V,设计精度分辨率为12bit,采样频率做成可调1Ms/s、2Ms/s、1.5Ms/s、3Ms/s。仿真结果表明,有效位数达到11.3bit。

摘要：在高杂波环境下工作的雷达系统要求大的瞬时动态范围,才能实现对弱目标信号的录取,迫切需要设计实现高动态范围的高速数据采集系统。研究了ADC芯片选型、时钟设计和前端电路设计对数据采集系统动态范围的影响,基于AD9650设计实现了一个16 b,65 MSPS的高速数据采集系统,用于实现对高杂波环境下雷达回波信号的采集。

摘要：达因风速的空气密度订正,现台站仍采用人工订正方法,显得较为繁琐,尤其在预审.审核等集中订正时更为突出。为减轻人工劳动,提高工作效率,特设计出《达因风速空气密度订正程序》。

摘要：介绍了ADC动态指标测试的常用方法和测试平台的基本组成,着重分析了对ADC性能测试时,输入采样时钟抖动对ADC动态性能的影响。同时还对测试信号频率和幅度的选择以及供电电源的指标与ADC动态的关系进行了详细分析。ADC测试平台的研究,对于ADC板卡设计及动态性能测试有一定的指导意义。