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检索条件"主题词=条纹像机"
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用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统
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《激光与光电子学进展》1999年 第S1期36卷 86-89页
作者：杨建伦 王根兴 温树槐 朱启华 刘忠礼 唐正元 杨洪琼 郭玉芝西南核物理与化学研究所成都610003 
为了测量ICF内爆实验聚变反应的时间过程，建立了计算机MonteCarlo光线追迹程序进行光学辅助设计，研制了主要由BC422塑料闪烁体、消色差透镜组、皮秒条纹像机和制冷增强CCD组成的超快脉冲中子探测系统，其时间响应＜40ps。闪烁体与靶...
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