摘要：氢损现象是导致光纤出现附加吸收损耗的重要因素。以内包层下凹型弯曲不敏感G.657光纤为实验用光纤,分析了弯曲不敏感G.657光纤结构与衰减因素,阐述了氘气消除光纤氢敏感性机理,并设计了光纤氢损实验对氘气处理配方进行了定量数据测试。通过调整氘气的浓度和处理时长两项关键参数,得到了不同实验条件下光纤的附加衰减值。对比实验结果和追踪复测结果均表明,0.9%氘气浓度和80 h氘气处理时长是适合降低弯曲不敏感G.657光纤氢损的氘气处理配方。

摘要：依据目前有关氢损方面的研究成果及理论，笔者对于不同规格的光缆的氢损问题进行了分析讨论，希望能给光缆的设计、制造和使用者提供有益的参考。

摘要：所研究的热循环萃取-气相色谱分析析氢量的方法,是在氩气氛下加热老化光纤光缆用材料,装入一次试样即可全机械化地、不断地进行在线取气,完成多个温度点的试验,用稳定值回归一试样的析氢函数,为氢损研究提供依据,为光缆生产选用材料提供数据。介绍了试验装置的设计,析氢测定仪的气路流程,仪器示值的标定,老化时间的确定,以及光纤光缆用材料的析氢函数。

摘要：本文讨论了光缆中光纤在 1550 nm波长窗口衰减变化的影响因素 ,重点分析了引起衰减变化的两大主要因素——余长和氢损问题 ,并提出了相应的改善方法 ,希望能给光缆设计、制造和使用者带来益处。