摘要：集成电路技术的迅速发展,测试生成变得越来越困难。往往测试代价比电路设计,生产代价还要高。扫描设计技术将时序电路的测试生成转换成组合电路来处理。组合电路的测试码生成就显得很重要了。D-算法第一次引入了多路径敏化的思想,因而是第一个完全的算法。但由于D-算法对故障校验电路处理所存在的缺陷,使得D-算法在测试码搜索过程中所存在的盲目性逐步表现得非常突出。PO-DEM算法第一次将测试生成问题归结为一个多维空间解的搜索问题。该算法采用隐枚举的方法来处理测试生成,并第一次引入了回退技术,使得测试码生成效率大大提高。FAN算法对PODEM算法作较大的改进。该算法引入了唯一敏化,唯一蕴含及多路回退等技术将测试码生成效率大大提高。不同于PODEM算法的是,FAN算法搜索测试码的回溯不是针对原始输入,而是对头线和扇出。SOCR-ATES算法在FAN算法的基础上,引入了全局蕴含的思想及一系列改进的唯一敏化和改进的多路回退策略。SOCRATES进而将全局蕴含及唯一敏化扩展到动态的策略,进一步提高了测试码生成效率。EST算法第一次提出了测试码搜索状态的概念,并采用E-前沿来描述测试码搜索的不同状态。通过引入状态等价的概念,大大缩小了测试码搜索空间。DST算法将测试码搜索空间的状态等价概念扩展到状态控制的概念,在EST算法的基础上,进一步大大缩小了搜索空间。

摘要：介绍了当前的几种常用Web测试生成技术,提出了基于爬虫的Web测试生成技术,设计并实现了Web测试生成系统,该系统可以自动化完成爬取目标Web应用、处理分析爬取结果、生成测试用例、执行测试用例的功能,并且系统执行过程中输出的分析结果和测试用例可以被其他相关系统如测试覆盖分析系统利用。

摘要：随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的测试已成为集成电路设计与生产的重要组成部分．讨论了电路的测试及故障检测中的一些问题，对数字电路测试生成的主要算法的性能进行了详细分析。

摘要：数字电路测试的关键在于算出测试向量,本文基于传统D算法思想提出了一种改进型的D算法。与前者相比,新算法的主要优点是:(1)加快测试向量生成的速度;(2)提高了故障覆盖率。研究了新算法的关键技术,包括D立方设计、D立方的读入和初始D路径敏化等。经实例验证,测试程序自动生成了测试向量,说明改进后的D算法是一种有效的测试生成算法,为自动测试生成系统的设计奠定了基础。

摘要：本文介绍了一个面向非扫描设计的实用的ASIC测试生成和可测性分析系统—ATG－TA.它采用功能块组同步时序电路模型和功能块引腿固定故障模型．可接收四种常用语言描述的电路网表．用FDCM方法引导测试生成过程，用DRFM方法识别组合冗余故障，通过测度分析与规则判定相结合识别时序电路中的不可测故障．用G－F二值算法按有限回溯测试模式产生方法推导测试向量．反向追踪时，采用宽度和深度动态交替代先策略．ATGTA已实际用于四万门以内的非扫描单双向ASIC芯片，效果良好．

摘要：针对边界扫描中的测试生成问题,研究了一种SVF文件解析器;通过解析SVF文件,生成符合JTAG时序的测试信号,包括TCK、TMS、TDI以及预期的TDO值,这些测试信号可直接与被测系统相连,控制边界扫描测试过程;为方便查找与参数信息共享,将编译信息分类存入嵌入式开源SQLite数据库中;最后利用CY7C68013通过并口方式验证SVF解析器产生的测试信号;验证结果表明,所设计的SVF解析器可正确解析SVF文件,产生符合JTAG时序的测试信号,符合边界扫描测试生成要求。

摘要：内建自测试(BIST)方法是目前可测试性设计(DFT)中应用前景最好的一种方法,其中测试生成是关系BIST性能好坏的一个重要方面。测试生成的目的在于生成尽可能少的测试向量并用以获得足够高的故障覆盖率,同时使得用于测试的硬件电路面积开销尽可能低、测试时间尽可能短。内建自测试的测试生成方法有多种,文中即对这些方法进行了简单介绍和对比研究,分析了各自的优缺点,并在此基础上探讨了BIST面临的主要问题及发展方向。

摘要：文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的BIST测试生成器设计方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑电路,对LFSR的输出和时钟进行调整,从而得到了准单输入跳变的测试向量集,使得待测电路的平均功耗大大降低。由于该设计方案比其它LPTPG方案的面积开销小,从而具有更好的使用价值。

摘要：测试是保证电路系统可靠性的重要手段,已成为集成电路设计与生产的一个组成部分,研究了基于二元判定图的数字电路测试生成方法,对布尔函数的表示和操作的二元判定图进行研究,详细讨论了其中的ite算符;给出了基于二元判定图的电路测试生成方法的实现步骤,并用实例进行了说明。

摘要：随着移动互联网技术迅速发展,移动设备成为人们生活中必不可少的部分,其中Android手机占有了智能手机的主要市场。相对于传统软件,Android应用易于发布、开发周期短,但其质量常常难以保证。软件测试是用于保证软件质量的最常用方法,其中关键的步骤是如何生成合适的测试用例,而对于事件驱动型Android应用程序,关键在于如何生成合理的事件序列辅助测试过程。目前,已有一些研究者开发了面向Android应用的测试事件生成工具。针对三种典型的测试生成工具,分析了其工作原理与特性;并选取覆盖多种类别的40个应用程序作为基准测试集,设计了统一的测试框架,对工具的兼容性、易用性、测试时间和程序覆盖能力等特点进行了分析与对比,并根据相关测试工具的缺陷提出一定的创新性的解决方案。