摘要：提出了动态串扰噪声的识别算法.针对基于传统静态时序分析的结果过于保守的缺点,本算法引入了混合时序分析,缩小了时间窗区间,为动态串扰噪声的识别提供了准确的时序信息,与此同时,通过测试生成来验证信号间的逻辑关系,根据这些准确的时序及逻辑信息,识别出动态串扰噪声.

摘要：针对ＶＬＳＩ系统芯片（ＳＯＣ）级设计中存在的故障模拟和故障估计问题，从系统级行为算法入手，对系统芯片级中故障进行模块划分，抽取了故障模块模型ＭＵＳ，提出了系统级故障模型和算法，设计并给出了系统芯片级故障模拟系统ＳｙｓＦｓｉｍ，该系统由系统级组合故障模拟器Ｈｓｉｍ和时序故障模拟器Ｂｓｉｍ构成。经过实验证实，提出的ＶＬＳＩ系统层模拟算法和系统对故障模拟所达到的故障覆盖率、占用ＣＰＵ时间和存储量方面都较由门级所用故障模拟算法和系统有较大的改善，Ｈｓｉｍ和Ｂｓｉｍ在系统级对标准电路进行故障模拟所达故障覆盖率分别为９４．３％和９５．０％。加入先期研制的ＰＬＡ／ＲＯＭ故障测试生成算法和环境ＴＨ－ＴＥ１００，还可实现１００输入和１００输出的ＰＬＡ或ＲＯＭ的故障模拟和测试生成。

摘要：模拟是验证数字芯片设计的传统方法。随着设计规模及其输入数据量指数性增长,模拟时间越来越长。本文详细介绍了测试生成、模拟引擎和结果检查,同时简要介绍了智能模拟和三种模拟加速技术。

摘要：Y2002-63121-414 02196633维集成的功率趋势和性能特性=Power trends andperformance characterization of 3-dimensional integration[会,英]/Zhang,R.& Roy,K.//The IEEE Interna-tional Symposium on Circuits and Systems Vol.4 of 5.—414～417(HE)Y2002-63233 02196642001年 IEEE 砷化镓集成电路会议录,摘要=2001IEEE GaAs IC symposium,technical digest[会,英]/IEEE Electron Devices Society.—2001.—279P.(E)本会议录收集了于2001年10月21～24日在马里兰州 Baltimore 召开的 GaAs 集成电路会议上发表的61篇论文,内容涉及无线收发信机技术,集成电路计算机辅助设计,单/多信道光电子学,异质结双极晶体管放大器,10～40GB/秒光通信物理层 IC,功率放大器应用,低噪声场效应晶体管。

摘要：Y2001-62838 01173292000年第9届亚洲测试专题研讨会会议录=Proceed-ings of the ninth Asian test symposium（ATS 2000）[会,英]/IEEE Computer Siciety Test Technology TechnicalCouncil（TTTC）.—IEEE Computer Society,2000.—495P.（PC）本次会议由IEEE计算机学会测试技术委员会（TTTC）主办,于2000年12月4～6日在中国台北召开。该会议录共收录80多篇论文。内容涵盖:模拟与混合信号测试,存储器机内自测与自诊断,故障模拟与定时模拟,故障分析,测试生成,功能测试,机内自测,软件测试与测试合成,嵌入磁心测试,存储器测试,LDDQ测试,可测试性分析与可测试性设计,容错,低功率测试,以及自检电路与并行故障检测等。

摘要：Y2002-63059-103 0210868采用局域模型对时序电路进行故障诊断=Error diag-nosis of sequential circuits using region-based model〔会,英〕/D’Souza,A.L.＆ Hsiao,M.S.//2001 IEEE the14th International Conference On VLSI Design.—103～108(E)

摘要：Y98-61305-625 9906699微处理机设计的现状和趋势=Status and trends of mi-croprocessor design[会,英]/Bajenescu,T.I.//1997Proceedings of the International Semiconductor Confer-ence,Vol.2.—625～627(UV)Y98-61351-710 9906700数字信号处理机在电信中的应用(含8篇文章)=Ses-sion 4-2:DSP application in telecommunication[会,英]//1997 IEEE 40th Midwest Symposium on Circuitsand Systems,Vol.2.—710～745(HG)

摘要：Y2000-62352-399 0018980测试生成与延迟测试=Session 2.2.3:test generationand delav testing[会,英]//1999 IEEE InternationalConference on Computer Design.—399～423(PC)本部分收入4篇论文。题名为:引起定时故障的桥检测,无服延迟故障的可测试性设计,采用动态选择子电路的组合电路用的基于故障模拟测试生成,以及片上系统有效确定性测试用的嵌入处理机。

摘要：Y98-61303-325 9905850RF IC 中通过平面螺旋电感器的衬底噪声耦合的实验结果和模拟=Experimental results and simulation ofsubstrate noise coupling via planar spiral inductor in RFICs[会,英]/Pun,A.& Yeung,T.//1997 IEEE In-ternational Electron Devices Meeting.—325～328(AG)

摘要：Y2001-62877-230 0120662具有16Mb 嵌入式 DRAM 的60MHz 240mw MPEG-4视频电话 LSI=A 60MHz 240mw MPEG-4 video-phoneLSI with 16Mb embedded DRAM[会,英]/Nishikawa,T.& Takahashi,M//2000 IEEE International Solid-State Circuits Confefence,Digest.—230～231(EC)