摘要：测试在需求分析阶段就开始介入,不仅能帮助开发人员更有效地完善需求,也能让测试人员设计出更贴近需求的测试.同时当需求进行了更改之后,测试人员也能及时和准确地了解需求的变化、更改测试需求.利用模型驱动的思想,对测试需求的概念进行阐述.定义了一种测试需求的元模型和测试需求建模方法,利用测试需求建模方法,可以得到测试需求模型,从而得到相应的测试目标,生成所对应的测试用例.并给出了对SIP协议进行测试的实验分析,在其中体现了利用测试需求建模得出的测试需求模型的作用.

摘要：航天器作为一个典型的安全苛刻系统,其可信性研究需求迫切,支持可信性评估的数据来自于航天器测试用例的执行,而航天器测试需求是测试用例生成的重要依据.在实际应用中,对航天器这类复杂系统,面临测试需求庞杂、测试需求编制周期长、人工经验编制方式难以保证测试需求的充分性、完备性及可复用性等问题.针对这些问题,通过分析航天器组织结构特点,建立航天器形式化模型,基于航天器测试任务流程,给出了航天器静态测试需求和动态测试需求形式化描述规范,并给出航天器测试需求自动生成方法,保证了测试需求的充分性和完备性,提高了测试需求复用性,与人工编制方式相比,缩短了测试需求编制周期.最后设计并实现航天器测试需求生成应用系统,验证所提出方法的有效性.

摘要：针对现有的测试需求建模方法不能同时描述功能、性能和可靠性测试需求的问题,提出一种基于任务场景的测试需求(TreBts)建模方法。从测试系统执行复杂测试任务的角度出发,建立TreBts的概念模型并设计3类视图;在此基础上,给出3类视图的建立指南及基于TreBts模型的测试流程,指导测试人员开展测试。实验结果表明,TreBts可准确描述3种类型的测试,自动生成的测试套可完全满足每类测试需求。

摘要：网络化应用将成为未来软件技术发展的主导模式。为了保证网络化应用之间能够有效地协同工作,必须对其进行互操作性测试。互操作性测试具有测试需求复杂易变、测试用例设计困难的特点,因而需要消耗大量成本。为此,提出一种基于测试需求的互操作性测试用例生成方法。该方法采用模型驱动的测试思想,以测试需求模型描述互操作性测试需求,以状态图描述各被测应用的规格说明,通过两者的结合生成满足测试需求的测试用例。

摘要：面对目前移动数据业务的迅猛发展,主流运营商为了增强自身的竞争力,抢占巨大的潜在移动数据业务市场,纷纷积极地选择HSPA+或者LTE作为他们的下一步发展目标。因而HSPA+或者LTE移动数据的测试成为目前测试的热点。罗德与施瓦茨公司刘昶所撰《终端数据应用测试需求及方案》一文介绍了R&S终端数据应用的测试需求及测试方案。R&SCMW500或者CMW-PQA系统可以满足运营商对不同种类的终端性能进行比较测试的不同层次的需求,从而最终提高用户数据使用的满意度;同时,对于终端厂家来说,在开发的早期就测试终端在不同衰落环境下的数据流量性能,更是可以发现UE实现上从应用层到物理层中阻碍流量的瓶颈,从而优化终端设计,缩短终端成熟上市的时间。

摘要：本文介绍了有关测试需求整理和测试用例设计的一些方法和建议,也许它们并不是完全适合于您的工作,但是可以为您提供一种新的实践思路。本文适合的读者是已经掌握了软件测试的一些基本概念,并作过实际的软件测试工作。

摘要：针对当前UUT测试需求分析过程中存在的问题,提出了面向UUT问题域的测试需求分析方法。该方法解决了UUT测试需求分析过程中容易混淆软件分析过程和设计过程的界限,不能清楚地划分软件设计人员的角色和任务等问题,从技术上和体制上保证了UUT测试需求分析任务的实现。

摘要：美国吉时利仪器公司推出的3700系列系统开关／万用表和插卡系列产品，实现了高品质、仪器级的开关功能，适用于包括需要大量通道的高性能应用在内的多种应用领域，可控制多达576个多路复用通道，外形尺寸采用业界领先的六槽、2U风格。其高性能的集成DMM选件具有快速、低噪声的测量能力，分辨率高达七位半，而价格却低于普通六位半的DMM设备。

摘要：近20年来,美国航空工业界十分关注美国国家航空航天局(NASA)应该维持怎样的风洞群。按照时间顺序对相关讨论的研究梳理出三种测试需求的预测方法。基于用户需求调查的需求预测方法最为直接,但是其客观性和准确性容易受到受访对象自身立场和经验水平的制约;基于模拟仿真的预测方法有望将不确定性因素纳入考虑,得到比平均值更有意义的区间估计;基于功能替代的预测方法实现了功能与需求的对接,有利于统筹和调度风洞的使用。后两种预测方法都需要扎实的统计数据基础。

摘要：成立于1954年的爱德万（Advantest）公司是一家领先的半导体自动化测试设备（ATE）制造商,提供在电子设备和系统的设计和生产过程中所需的测试测量设备。目前,公司的产品主要涵盖半导体和元件测试系统、机电一体化系统以及其他新业务（电子束光刻、SEM计量、云测试等）,专注于半导体测试、电子测试、太赫兹波测试、MEMS技术、纳米技术以及微机电技术领域。