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检索条件"主题词=片上老化测量"
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面向微处理器核的片上老化检测模块设计
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《传感器与微系统》2021年 第2期40卷 89-91,94页
作者：刘帅 虞致国 洪广伟 顾晓峰江南大学物联网技术应用教育部工程研究中心电子工程系江苏无锡214122 
为检测负偏压温度不稳定性(NBTI)效应导致的微处理器中组合逻辑路径延迟的增大,设计了一种可感知微处理器核NBTI效应的混合结构检测模块。检测模块包括老化延时探测模块及测量模块,能够准确测量NBTI效应造成的电路延时增量;相比于传统...
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