限定检索结果

检索条件"主题词=片上调试"
20 条 记 录,以下是1-10 订阅
视图:
排序:
可复用微处理器片上调试功能的设计与实现
收藏 引用
《计算机辅助设计与图形学学报》2012年 第10期24卷 1369-1374页
作者:王琪 高瑛珂 华斯亮 张铁军 王东辉 侯朝焕中国科学院声学研究所数字系统集成实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049 
为了方便软件与应用系统的开发与调试,提出一种可复用的微处理器片上调试方法.通过设计通用的调试指令集和增加调试模块,并扩展处理器内核功能,实现了断点设置与取消、内核运行的流水级精确控制、内核资源访问、任意程序段运行中特殊事...
来源:详细信息评论
基于调试异常模型的嵌入式处理器片上调试设计
收藏 引用
《浙江大学学报(工学版)》2010年 第6期44卷 1067-1072页
作者:刘鹏 钟耿 徐国柱 邬可俊浙江大学信息与电子工程学系浙江杭州310027 杭州士兰微电子股份有限公司浙江杭州310012 
针对调试的可移植性,建立同流水相关的精确调试异常模型,模型通过增加调试中断、单步、软硬件断点等精确调试异常的产生和处理机制、调试存储空间以及基于JTAG(joint test action group)的快速通信协议,实现一种通过JTAG接口的嵌入...
来源:详细信息评论
面向车身控制应用的8位MCUJTAG片上调试模块设计
收藏 引用
《科学技术与工程》2013年 第16期21卷 4711-4716页
作者:邓冏 王海欣 黑勇中国科学院微电子研究所北京100029 
基于IEEE 1149.1标准,设计了面向车身控制的8位MCU的JTAG片上调试系统。该系统很好地支持断点与观察点设置、外部调试请求、内存和存储器访问等基本调试功能。在几乎不改动内核的基础上,解决了内核中编码长度和执行周期不同的指令,给...
来源:详细信息评论
一种基于JTAG的SoC片上调试系统的设计
收藏 引用
《微电子学与计算机》2009年 第5期26卷 5-8页
作者:虞致国 魏敬和中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 
基于SoC的硬件设计,提出了一种基于JTAG的SoC片上调试系统的设计方法.该调试系统可设置多种工作模式,含有CPU核扫描链和上总线扫描链.能硬件实现调试启动与停止、断点设置、单步执行及存储访问等调试功能.对外围IP模块调试诊断时,可绕...
来源:详细信息评论
基于总线访问的片上调试方法研究
收藏 引用
《计算机测量与控制》2014年 第2期22卷 510-512,518页
作者:张鹏 樊晓桠 黄小平西北工业大学计算机学院西安710129 
支持上在线调试是嵌入式SoC设计目标之一;现有的片上调试系统多基于扫描链技术,SoC系统的功能设计和调试设计必须同步,这种紧耦合的设计方法移植性差、通用性弱,与SoC系统IP复用的理念不符;基于此,提出了一种基于上标准总线的SoC在...
来源:详细信息评论
超标量DSP的片上调试与实时跟踪支持
收藏 引用
《计算机应用研究》2012年 第1期29卷 207-210页
作者:王刚 张盛兵 黄嵩人西北工业大学计算机学院西安710072 中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 
针对嵌入式系统日益严峻的调试挑战,提出并实现了一种基于32 bit超标量DSP内核的片上调试与实时跟踪架构。该架构通过设计专用的跟踪接口与其他硬件资源,并扩展JTAG端口、存储器保护逻辑与流水线控制逻辑,以较低的硬件开销实现对内核的...
来源:详细信息评论
一种基于JTAG接口的片上调试与性能分析方法
收藏 引用
《微电子学与计算机》2012年 第7期29卷 68-71页
作者:高瑛珂 王琪 李泉泉 张铁军 侯朝焕中国科学院研究生院北京100190 中国科学院声学研究所北京100190 
介绍了一种复用JTAG标准接口来实现处理器片上调试和性能分析的方法.以SuperV DSP处理器为研究对象,通过设计调试和性能分析模块以及相应指令,实现了运行控制,断点设置等调试功能以及统计执行周期数,Cache缺失率等性能分析数据的功能,...
来源:详细信息评论
一种嵌入式微处理器片上调试系统的硬件部分设计
收藏 引用
《集成电路应用》2005年 第11期22卷 36-38页
作者:彭洪 王永建 魏淑英同济大学微电子中心 
本文介绍了嵌入式微处理器的片上调试方法,引入了其中基于MIPS微处理器的EJTAG片上调试规范。设计了EJTAG的上硬件部分,将其分为核外TAP相关部分和核内调试相关寄存器部分,分别由EDA软件自动生成和人工设计完成。
来源:详细信息评论
一种SoC片上调试与可测性的整合设计
收藏 引用
《电子与封装》2010年 第2期10卷 20-22,34页
作者:虞致国 魏敬和中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的片上调试与可测性变得越来越困难和重要。片上调试与可测性都是系统芯设计的重要组成部分。文章针对某款32位SoC,充分利用CPU核原有的调试结构,提出一种可测试系统与调试系统的一体化结构设计,...
来源:详细信息评论
基于C8051的片上调试单元设计
收藏 引用
《电子与封装》2017年 第3期17卷 19-21,25页
作者:俞小平 唐映强 李世伟无锡中微爱芯电子有限公司江苏无锡214072 
随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,强劲的调试手段是非常重要的。当bug复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要。基于C8051 IP设计了一...
来源:详细信息评论
聚类工具 回到顶部