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抗闩锁效应微处理器复位电路设计研究
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《测控技术》2015年 第12期34卷 142-145页
作者：侯立功 陈天娥无锡职业技术学院江苏省传感网工程技术研究开发中心江苏无锡214121 
主要探究解决控制系统在频繁通断电情况下容易死机的问题。通过对传统微处理器复位电路的理论分析和工作波形仿真,发现在电源掉电时,微处理器在其复位引脚受到外部复位电容的放电冲击时,容易进入闩锁状态。由此提出上电复位电路也是容...
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