摘要：为解决高纯氢中痕量杂质的分析问题,对变温浓缩样品气前处理装置进行探讨,介绍了装置的工作原理、气路设计和部件选择等;研究装置的浓缩方法,确定样品气流量、浓缩体积、脱附温度等操作条件,并对方法的可靠性做了评价。

摘要：采用配有放电离子化检测器的气相色谱仪分析高纯四氟化碳中痕量气体杂质。研究了分析四氟化碳中氧气、氮气、一氧化碳、二氧化碳和六氟化硫等气体杂质的操作参数,确定了高纯四氟化碳中痕量气体杂质的分析方法。

摘要：针对燃料电池车用氢气中14种关键痕量杂质,建立了一套分析方法实验室整体解决方案,对其中9种关键痕量杂质(硫化物、甲醛、甲酸、一氧化碳、二氧化碳、氦、氩、氮和烃类)设计了分析平台,硫化物检出限可达1.0×10^(-5)μmol/mol。各项关键杂质检测限均满足ISO 14687-2019和GB/T 37244-2018对燃料氢气产品指标的要求。开发的整体解决方案已在生产企业成功应用。

摘要：仪器检测限是仪器能够检测到的最低浓度。仪器检测限告诉我们分析物的浓度低到什么程度仪器仍然能够检测出来,因此能够准确的知道我们所在用仪器的检出限对我们的硬件分析能力确认至关重要。利用电感耦合等离子体质谱仪和超高纯试剂(如金属杂质含量小于等于10ppt),根据自身实验室仪器检出限的预期来确定应配制标准的最小浓度,然后再分别乘以5倍和10倍来配制这两个标准(标准溶液1、标准溶液2),在质谱仪上反复交错分析这两个标准溶液,通过一系列的数据统计、计算得出仪器检出限。该方法操作简单、结果可靠,适用于日常超高纯电子化学品的痕量杂质分析时,需要确认其所在用仪器检出限使用。

摘要：针对光纤级高纯四氯化锗(99.999999%)中痕量含氢杂质吸收峰红外透过率检测(FTIR)用试样的采集,以及痕量金属杂质的电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定用试样的制备方法进行了系统研究。设计开发了用于检测痕量含氢杂质吸收峰红外透过率的样品采集实验装置,实现了含氢杂质(如—OH、—CH、HCl等)吸收峰的红外透过率在线连续测试,试样采集过程全密闭进行,避免了采样过程的二次污染,采样过程流程简短,操作简便;实验优选了在制备ICP-MS法测定痕量金属杂质用的试样过程中消除四氯化锗基体干扰、防止砷等易挥发杂质损失以及防止样品处理过程污染试样的制样方法,实现了试样制备过程二次污染源的有效控制,制样过程试剂消耗量少,制备时间短,待测元素无损失。