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检索条件"主题词=硬件设计检验"
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FPGA配合预失真技术的解调误码测试仪
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《微计算机信息》2008年 第23期24卷 216-218页
作者：朱琳 李署坚 杨东凯北京航空航天大学电子信息工程学院北京100083 北京航空航天大学 
介绍了一种以测试QPSK系统为基础的硬件设计检验方法,结合预失真技术对该测试系统的硬件总体规划及FPGA设计与实现进行了详细的论述,阐明了各个部分的工作原理。最后提出了实现解调同步的简易方法及误码率测试的具体实现。
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