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硬盘In-Drive伺服刻写的设计及实现
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《仪器仪表学报》2008年 第5期29卷 969-972页
作者：何统洲 黄浩郧阳师范高等专科学校物理与电子工程系丹江口442700 华中科技大学计算机科学与技术学院武汉430074 
硬盘的伺服刻写是整个硬盘产生的核心,其中伺服刻写中所产生的RRO是影响硬盘伺服质量的重要标志,并且RRO的大小决定着硬盘的功耗。采用传统的Media伺服刻写技术会产生很大的RRO,影响伺服信号的质量;而采用In-Drive伺服刻写技术可以避免...
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