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检索条件"主题词=结构异常"
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基于边缘特征的受电弓结构异常检测研究
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《浙江科技学院学报》2023年 第1期35卷 30-39页
作者:谭平 陈振鑫 Ipyana Isaac Mbugi 丁进浙江科技学院自动化与电气工程学院杭州310023 
【目的】针对滑板和弓角形变引起的受电弓结构异常检测问题,提出一种基于边缘特征的图像检测方法。【方法】为提高检测效率和降低成本,首先以车载受电弓监控摄像机拍摄的画面作为输入,使用基于卷积神经网络的目标检测算法识别与确定图...
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鼻腔结构异常的手术治疗
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《中国耳鼻咽喉头颈外科》2005年 第10期12卷 656-658页
作者:崔志春 孙凤新 刘勇 成雷北京市大兴区人民医院耳鼻咽喉科北京大兴102600 
目的分析2000年3月至2004年5月收治的60例鼻腔结构异常患者的手术方法,探讨改善鼻通气的最佳治疗方案。方法针对不同类型的鼻腔结构异常,相应行鼻内镜下手术,包括:鼻中隔矫正术、中鼻甲成形术,钩突切除加前筛上颌窦开放术、下鼻甲部分...
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Park法结合处理眼轮匝肌同时行内眦开大和重睑成形术
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《中华外科杂志》2005年 第19期43卷 1288-1289页
作者:马继光 冯越蹇 杨宇 王黔 王太玲 胡守舵 于浩 张海明中国医学科学院整形外科医院面颈部整形美容中心北京100041 
内眦赘皮是存在于内眦部位连接上下睑的一弧形皮肤皱褶,一般认为是因内眦部眼轮匝肌结构异常所致[1],存在于半数以上的中国人,可分为眉型、睑型、睑板型和倒向型赘皮[2].由于它的存在,行重睑术时,常使上睑的皮肤皱褶过低,重睑形态不明显...
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漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别
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《中国电子商情》2020年 第5期 40-43页
作者:Tae Yeon Oh泛林集团 
从20nm技术节点开始,漏电流一直都是动态随机存取存储器(DRAM)设计中引起器件故障的主要原因。即使底层器件未出现明显的结构异常,DRAM设计中漏电流造成的问题也会导致可靠性下降。漏电流已成为DRAM器件设计中至关重要的一个考虑因素。
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动态随机存储器的故障溯源
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《软件和集成电路》2020年 第4期 60-63页
作者:Tae Yeon Oh泛林集团 
多种来源的漏电流和寄生电容会引起DRAM的故障,在DRAM开发期间,工程师需仔细评估这些故障模式,当然也应该考虑工艺变化对漏电流和寄生电容的影响。从20n m技术节点开始,漏电流一直都是动态随机存取存储器(DRAM)设计中引起器件故障的主...
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