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检索条件"主题词=美国国家仪器中国有限公司"
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NI将联合泰克等业内公司主办第三届“设计、验证及测试论坛”
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《微计算机信息》2006年 第9X期22卷 317-317页
继2004和2005年连续在中国地区成功举办两届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation TestForum,即DVTF)之后,美国国家仪器中国有限公司(Nationallnstruments,简称NI)宣布即将于今年9月在北京天鸿科园大酒店主办第三届DVTF...
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NI LabVIEW软件着眼于业界领先的ARM微控制器
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《微计算机信息》2008年 第18期24卷 327-327页
2008年5月-美国国家仪器中国有限公司(简称NI)近日与ARM公司共同发布了应用于ARM微处理器上的NI LabVIEW嵌入式模块。它是LabVIEW图形化系统设计平台的延伸,直接适用ARM 7,ARM 9和Cortex—M3微处理控制器系列产品。该模块是第一款...
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LabVIEW 8.20图形化开发环境正式推出简体中文版本
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《微计算机信息》2006年 第11X期22卷 315-315页
美国国家仪器中国有限公司(National Instruments,简称NI)正式宣布.在行业标准的LabVIEW图形化开发环境诞生20周年之际.推出具有里程碑意义的简体中文版本LabVIEW8.20。LabVIEW8.20简体中文版的功能特性与英文版本完全相同.唯...
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做毕业设计,赢NI奖金——应届理工科毕业生都来参加NI毕业设计竞赛——
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《国外电子测量技术》2004年 第2期23卷 32-32页
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NI和泰克强强携手联合举办“设计、验证及测试”巡回研讨会
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《测控自动化》2004年 第7期 12-12页
新闻发布——2004年6月--美国国家仪器中国有限公司(National Instruments)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)联合宣布推出一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(Design,Validation,Test Forum,简称DVTF 2004)”,...
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NI与泰克等主办设计、验证及测试论坛
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《电子测试(新电子)》2006年 第9期 116-116页
美国国家仪器中国有限公司(National Instruments,简称NI)宣布即将于今年9月21日在北京天鸿科园大酒店主办第三届DVTF活动。除了自动化测试主题以外,嵌入式系统设计也将成为今年的亮点。
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NI和泰克:打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛"圆满落幕
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《电工技术杂志》2004年 第9期26卷 10-10页
美国国家仪器中国有限公司(National Instruments.简称NI)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)于2004年7~8月联合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相继举办了一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛”。
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行业先锋首度合作,强强携手为提高生产效率献计献策——访NI和泰克“2004设计、验证及测试论坛”技术研讨会
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《可编程控制器与工厂自动化(PLC FA)》2004年 第9期 23-23页
随着设计过程日趋缩短,工程师们迫切需要优秀的解决方案,更高效地完成数据采集、分析和显示的任务。为此,美国国家仪器中国有限公司(NI)和泰克电子(中国)有限公司强强携手推出巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛”。
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NI和泰克 打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛”圆满落幕
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《测控自动化》2005年 第1期 18-18页
2004年9月——美国国家仪器中国有限公司(National Instruments,简称NI)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)于7、8两月联合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相继举办了一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(简...
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NI LabVIEW软件着眼于业界领先的ARM微控制器新模块结合图形化系统设计平台与世界最流行的微控制器以简化嵌入式系统开发
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仪器仪表标准化与计量》2008年 第3期 I0004-I0004页
美国国家仪器中国有限公司(简称NI)近日与ARM公司共同发布了应用于ARM微处理器上的NILabVIEW嵌入式模块。它是LabVIEW图形化系统设计平台的延伸.直接适用ARM7,ARM9和Cortex-M3微处理控制器系列产品。该模块是第一款由两家公司共同...
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