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LabVIEW8.20——20年的持续创新:美国国家仪器公司上海分公司
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《计算机测量与控制》2006年 第11期14卷 I0001-I0002页
作为一款诞生于1986年的针对测量和自动化设计的图形化开发环境,LabVIEW在二十年中持续创新,不断改进。最初作为自动化测量仪器工具的LabVIEW,现在已经成为用于设计、测试和控制的图形化平台。多年以来,LabVIEW社区也已成长为一个...
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在线座谈 中电测试网与美国国家仪器公司共同举办
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《世界电子元器件》2005年 第2期 102-103页
中电测试网与美国国家仪器公司(National Instruments Inc.简称NI)合作,将在2005年2月28日上午10:00-12:00在中电测试网上举办在线研讨会。这次在线研讨会的主题是"如何迅速构建高效、完整的数据采集系统"。本次研讨会将涉及...
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美国国家仪器公司(NI)将于2007年1至2月举办“控制系统设计、验证与测试”全国路演
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《自动化博览》2007年 第1期24卷 5-5页
NI中国将针对相关行业的系统开发工程师、算法设计人员和系统测试工程师,于2007年1至2月期间在全国9大城市举办“控制系统设计、验证与测试”专业研讨会路演,主要讲题和内容包括“通过LabVIEW的统一开发环境,对控制系统进行建模、设...
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美国国家仪器公司(NI)推出全新基于LabVIEW的GPS接收器测试工具包
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《电子元器件应用》2008年 第10期10卷 84-84页
美国国家仪器有限公司(National Instruments.简称NI)近日发布了NI LabVIEW GPS工具包.这是一款图形化系统设计环境下的扩展工具包,使NIRF PXI平台可用于多卫星GPS信号仿真。通过NI LabVIEW软件创建波形来仿真多达12颗卫星(L1波段...
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科技动态
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《测控技术》2011年 第4期30卷 121-122页
美国国家仪器公司签约GE智能平台分销GE的反射内存模块GE智能平台宣布已经签署协议,由美国国家仪器公司(NI)分销适用于3UCompactPCI系统的GE cPCI-5565PIO反射内存PMC和PMC载卡。传输速率2 GB/s、配备256 MB内存的cPCI-5565PIO基于GE ...
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科技动态
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《测控技术》2013年 第7期32卷 159-160页
使用NI PXI可编程电源优化自动化测试系统美国国家仪器公司近日发布最新的通用可编程电源,提供了PXI中最高的功率密度,为自动化测试系统奠定了基础。NI PXIe4112与PXIe4113模块提供了高功率密度,能够节省机架空间,同时省去多个仪器结构...
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新产品与新系统
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《自动化信息》2012年 第9期 15-21页
美国国家仪器公司(简称NI)发布NI Single—Board RIO GPIC,提供标准的RIO架构,结合功能全面的NI LabVIEW系统设计工具链,可用于实现智能的并网型能量转换系统,并显著降低嵌入式系统的开发成本和风险。这一产品的发布正是NI研发部...
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NIDays 2012全球图形化设计盛会中国站在北京召开
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《国外电子测量技术》2012年 第11期31卷 1-1,4页
作者:刘璇国外电子测量技术 
美国国家仪器公司(以下简称为"NI公司")一年一度的NIDays全球图形化设计盛会中国站于2012年11月16日在北京召开。此次NIDays时隔四年后重返北京举办,吸引了近千名工程师参加。NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生作了题为"面向二十...
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创新变革 客户至上 测试测量、控制和设计领域的科技盛宴 2012年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”在北京召开
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《电子测量技术》2012年 第11期35卷 8-9页
作者:安亚兰<电子测量技术> 
2012年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于2012年11月16日在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。这是美国国家仪器公司(N1)自2008年以来,时隔4年后再次选择北京召开此盛会。本届NIDays围绕“仪器·变革进行时”这一主题,...
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基于虚拟仪器平台的PID控制系统的设计
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《东华理工学院学报》2004年 第4期27卷 395-397页
作者:江伟 袁芳 黄乡生东华理工学院电子工程与自动化系江西抚州344000 
美国国家仪器公司的图形化编程语言LabVIEW为开发平台 ,结合PID控制工具包 ,介绍了炉温控制系统的整个设计过程。阐述了炉温控制系统的硬件结构组成 ,其中包括PCI 12 0 0数据采集卡、PID控制器的设计方法。给出了炉温控制系统的软件设...
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