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检索条件"主题词=耐电脉冲"
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薄膜型热印头电特性的测试
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《半导体杂志》1996年 第1期21卷 5-8页
作者：陈德里 申云琴 张生才 潘善臻天津大学300072 
本文对薄膜型热印头性能进行分析,重点讨论了热印头主要电特性——耐电脉冲冲击性能的测试原理、测试方法。同时,较详细地介绍了测试仪设计原理与电路。该测试方法也适用于厚膜型、混合型及其它类型热印头电特性测试及寿命估计。
来源：详细信息评论
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