摘要：基于轫致辐射原理,提出了通过轫致辐射靶优化设计软化脉冲硬x射线能谱的方法。采用MCNP程序模拟了复合薄靶和反射靶的输出参数,分析了复合薄靶中转化靶和电子吸收材料厚度对脉冲硬x射线能谱、转换效率以及透射电子份额的影响;给出了反射靶透射和反射x射线能谱、转换效率的差异及其随电子入射角度的变化规律。根据模拟结果分析了两种方法的可行性,并进行了实验验证,为轫致辐射靶的优化设计提供参考。

摘要：确定了利用全吸收法测量硬x射线能注量的技术方案,阐述了能注量测量的基本原理。结合实际测量环境,选择光电管和高密度硅酸镥闪烁体作为测量系统,分析了各个测量组件参数的影响因素。利用蒙特卡罗程序模拟了硬x射线在闪烁体中能量沉积的轴向分布,并计算了光子的透射率,据此确定了硅酸镥闪烁体的厚度为20mm。完成了准直系统和电磁屏蔽系统的设计,增加了信噪比。

摘要：介绍了基于吸收法的脉冲硬x射线能谱测量的基本原理及设计思路,完成了探测器及吸收片的选型,设计了射线准直系统,研究了散射对测量的影响,以12路PIN探测器阵列及铜、铝吸收片为测量核心部件研制了脉冲硬x射线能谱测量系统。实验测量了真空环境下"闪光二号"加速器串级二极管产生的脉冲硬x射线强度,获得了不同衰减程度的实验波形,通过解谱获得了脉冲硬x射线的能谱,光子最高能量约600 keV,平均能量约89.1 keV,与理论计算的结果比较符合。

摘要：根据基于吸收法的脉冲硬x射线能谱测量的基本原理,以12路Si-PIN探测器阵列及吸收片为测量核心部件,完成了能谱仪的结构设计,并对主要参数进行了实验标定。实验测量了真空环境下大面积脉冲硬x射线源加速器产生的射线强度,获得了不同衰减程度的实验波形。结合不同能量的射线经不同厚度的吸收片后在探测器阵列上的能量沉积,通过解谱获得了脉冲硬x射线的能谱,射线能量最高约为200 keV,平均能量约为51.9 keV。本文能谱测量技术丰富了脉冲射线辐射场参数测量手段,为进一步发展脉冲硬x射线束流诊断研究提供了技术支撑。

摘要：针对目前脉冲硬x射线源能谱硬、辐照面积小、辐射场电子份额高无法开展系统电磁脉冲效应实验研究的技术难题,提出了采用复合薄靶软化脉冲硬x射线能谱、降低电子份额的方法。采用MCNP程序数值模拟了电子和光子在不同材料中的输运规律,分析了复合靶结构和材料厚度对x射线能谱、电子份额的影响。以"闪光二号"加速器为电子束源,设计了复合薄靶、x射线窗。实验得到的x射线参数:平均能量121keV;均匀性2∶1情况下,700cm2平均剂量40rad(Si),500cm2平均剂量170rad(Si);光子数与电子数的比值大于103,可以开展系统电磁脉冲效应初步实验研究。