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自动测试及其系统: 收藏
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引用; 《电子科技文摘》2000年第6期 87-89页; Y2000-62046-397 0010039机内自测方法(含3篇文章)=Session 17:BIST relatedapproaches[会,英]//1999 17th IEEE VLSI Test Sym-posium.—397～418(AC)本部分共有3篇文章,篇名为:TAO-BIST:机内自测(BIST)寄存器传输级(RTL)电路可测试性...; Y2000-62046-397 0010039机内自测方法(含3篇文章)=Session 17:BIST relatedapproaches[会,英]//1999 17th IEEE VLSI Test Sym-posium.—397～418(AC)本部分共有3篇文章,篇名为:TAO-BIST:机内自测(BIST)寄存器传输级(RTL)电路可测试性分析与优化的构架,低能量 BIST 设计用测试矢量禁止技术,; 来源：详细信息评论

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