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检索条件"主题词=芯片测试系统"
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芯片测试系统滚珠丝杠轴承座有限元分析
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《电子工业专用设备》2021年 第6期50卷 55-58页
作者:贾月明 李斌中国电子科技集团公司第四十五研究所北京100176 
基于有限元理论,运用ANSYS软件建立了滚珠丝杠轴承座的实体模型,对滚珠丝杠轴承座静态特性进行了有限元分析,给出了滚珠丝杠轴承座在约束和载荷作用下的应力云图和位移云图,计算结果表明滚珠丝杠轴承座强度满足设计要求,为滚珠丝杠轴承...
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LabVIEW背景下的电池管理芯片测试系统设计
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《通讯世界》2022年 第9期29卷 169-171页
作者:何占玺 刘海江中国电子科技集团公司第十三研究所河北石家庄050051 
为保证锂电池不能过度充电,延长其使用寿命,对一套用于电动车的电池管理芯片测试系统进行研究。该系统能够检测出电池的电压、电流、温度、电路平衡以及电池负载状况,并利用控制器局域网络(controller area network,CAN)总线在上位机接...
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基于STM32F427单片机的高精度信号采集系统设计
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《移动信息》2019年 第8期 85-88页
作者:廖丁毅 曾维卓广州海格通信集团股份有限公司广东广州510663 广州精天信息科技股份有限公司广东广州510663 
针对声音传感器芯片测试系统需求,研制了一套高精度信号采集系统,系统采用STM32+FPGA架构,利用 FPGA 灵活的逻辑可操作性实现芯片测试控制信号的输出、AD的控制与数据的采集,利用STM32F427高性能数据处理能力完成数据的预处理及USB传输...
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