摘要：设计并制作了光强调制度和频率可调的发光二极管驱动电路,应用这种激励源激发荧光样品Eu2L′***2O(L′=C4H4O4),测量了激发光和Eu3+离子的5D0—7F2发射光的波形。实验得到的数据用按照相位法测量荧光寿命的原理用非线性最小平方曲线拟合,得到Eu3+离子激发态5D0的寿命约为0.680ms。讨论了光源调制中的高次谐波分量对测量结果的影响以及寿命具有一定分布的多指数衰减体系的测量和处理方式,提出应用傅里叶级数展开处理数据的修正方法,以扩大相位法测量荧光寿命的适用范围,得到更准确的荧光寿命值。

摘要：为了表征上转换纳米荧光微粒的发光特性,设计了一个可以对单个纳米微粒进行荧光寿命测量的系统。该系统首先使用基于检流计振镜的双光子显微镜系统对单分散状态的上转换纳米微粒样品进行扫描成像。然后,通过单分子荧光纳米定位算法精确找出每个纳米微粒的准确位置,再依次将激光聚焦到每个纳米微粒上,在该点施加一个500μs宽度的激光脉冲,并通过光电倍增管探测随时间变化的荧光强度信号。最后对荧光衰减曲线进行拟合,计算得到该纳米微粒的荧光寿命。实验结果表明:单个上转换纳米荧光微粒的荧光发射曲线符合单指数衰减规律,其荧光寿命为195.3μs。与之相比,聚集状态的纳米微粒的荧光寿命为358.9μs。这表明聚集状态对上转换纳米微粒的发光特性有显著影响。

摘要：介绍了荧光寿命的测试原理。设计了荧光寿命测试系统。利用脉冲取样技术测试了Nd∶GGG晶体的荧光寿命,约为250μs。采用英国的荧光光谱仪,在室温条件下,用波长为488nm的Ar离子激光器激发Nd:GGG晶体,获得了Nd:GGG晶体的荧光光谱,计算出的Nd∶GGG晶体的受激发射截面σ(λ)为21.57×10-20cm2。

摘要：针对纳秒量级荧光寿命的测量,提出一种改进的相调制法,提取周期性激发信号和相应的发射波形信号傅立叶级数中的一级项,按照相位法测量荧光寿命的原理求得荧光寿命τ值。据此采用易于调制的发光二极管为激发光源,充分利用实验室常用的仪器资源,设计了一种针对单指数衰减的测量系统。该系统主要由激发光源、光谱仪、示波器三部分组成,结构简单灵活、抗噪性好。对测量原理、频率的选择、系统的组成进行了详细讨论。利用该系统测量了乙醇溶液中甲酚紫(0.0033mol/L)的τ值为(4.03±0.87)ns,与采用德国PicoQuant公司TCPSC仪器测量的结果4.24ns相当。

摘要：依据荧光猝灭原理,分析了荧光寿命和水体溶解氧浓度的关系特性,研究了荧光寿命的锁相环检测技术,设计了基于ADuC841单片机和锁相环放大电路的新型荧光寿命法溶解氧检测系统。测量精度为0.01 mg/L,稳定性好,灵敏度高,响应时间小于30 s,并且不受外界杂散光和光源波动的影响,可实现水体溶解氧的原位、实时、在线监测。

摘要：为了测试分析上转换纳米材料(up-conversion nanoparticles, UCNPs)的荧光寿命,设计了一种针对UCNPs进行荧光寿命信号数据高速采集并测量输出的系统。该系统通过MATLAB编写虚拟原始荧光信号并完成滤波和数据拟合,将数据程序脚本嵌入LabVIEW中进行计算和处理,在上位机显示荧光信号波形、拟合数据波形、荧光个数、荧光寿命以及寿命极值等。研究结果表明:该系统软件仿真和数值计算模拟取得了基本一致的结果,在背景噪声一定的情况下,两者误差在3%以内,具有良好的稳定性和准确性。本研究工作对UCNPs荧光寿命测量系统的研发有一定指导价值。

摘要：介绍了一种实现荧光寿命成像显微技术（FLIM）的频域零差法，并改进了测量数据的逐点分析法，设计了相应的数据处理软件．通过对模拟数据的处理表明，完全满足FLIM数据处理的要求。

摘要：研制了一种简单的采用选通微通道板（ＭＣＰ）像增强器并与ＣＣＤ摄像机配合使用的荧光寿命成像系统。在脉冲光激发下，可以直接检测试样纳秒级的时间分辨荧光像。应用多选通检测的快速寿命测量方法，可以即时显示荧光寿命图像。在该系统中，利用光纤延迟线使试样的激光激发过程与你增强器的开关动作完全同步。为了补偿激发光源的强度起伏，设计了简单的强度监视电路。给出了仪器各部分的细节和两种成分试样的验证测试结果。

摘要：为了实现微波场中的温度测量,以荧光光纤作为传感器,基于荧光寿命测温法的原理,设计了荧光光纤测温系统。为选择合适的数据处理算法,使用VC++6.0软件编写了上位机数据处理显示界面,分别对最小二乘拟合法、FFT拟合法和积分面积比值法进行仿真,得出3种算法的优劣,为不同测量条件下选取数据处理算法提供依据,进而实现微波场环境下的温度测量。

摘要：本文介绍了一种测量荧光寿命的新方法:利用荧光衰减曲线和RC电路衰减曲线合成李萨如图形来测量固体荧光材料的荧光寿命。文中阐述了荧光寿命的测试原理,对激励光源、供电的脉冲电源和光电转换器进行了分析,用所设计的荧光寿命观测系统对Nd∶YAG晶体的荧光寿命进行了测量,得到的数值为230ns,与理论值相等。