摘要：薄膜的光学常数(折射率、消光系数)和厚度决定了镀膜零件的光学性能,因此根据实际条件掌握薄膜的光学常数和厚度是膜系结构设计和性能优化的重要环节。本文采用傅里叶红外光谱仪测试薄膜样品的反射光谱曲线,通过单纯形优化算法拟合反射光谱曲线,借助不同色散模型,构建目标优化函数,获得薄膜光学常数和厚度,拟合结果与采用椭偏仪测试的结果具有较好的一致性。将拟合得到的薄膜光学参数及厚度代入反射率理论计算模型,通过理论计算模型得到的反射率曲线和实验测试曲线吻合良好,折射率测试结果与计算结果的最大相对误差小于1.8%,厚度测试结果的相对误差不大于0.4%,考虑消光系数的反射光谱拟合曲线与测试曲线相对误差的最大值小于2%。该方法只需测量薄膜的反射光谱曲线,通过计算就能得到薄膜的光学常数及厚度。该方法测试计算简单、精度高、适用范围广,对光学薄膜结构设计、优化和加工具有一定的实际应用价值。

摘要：通过改变固态纳米孔薄膜厚度,揭示了λ-DNA在电场作用下通过纳米孔时堵塞离子电流的作用机理.纳米孔的电导主要由孔内电阻和孔口电阻构成,当纳米孔长度逐渐减小到与原子层厚度相等时,电导主要由孔口电阻主导.根据已有的纳米孔孔口电阻模型,推导出一个简化的DNA分子堵塞纳米孔的相对离子电流模型,定量地描述了纳米孔薄膜厚度与相对堵塞电流大小之间的关系.结果表明,相对堵塞电流随着纳米孔直径的减小而增加,但随着纳米孔厚度的减小而减小.为提高相对堵塞电流,提出了一种二级结构,该结构设置了一个更小的纳米孔孔口电阻区域.实验结果显示,该结构使相对堵塞电流提高了21.9%.

摘要：物体厚度是一个简单的物理量,然而对于薄膜体系,厚度则扮演着极其重要的角色,尤其是对薄膜的各种物理和化学性质影响很大.因此,在薄膜物理这门课程中,需要强化薄膜厚度的概念及其测量方法的教学内容.本文从薄膜厚度的基本概念出发,围绕“学”来展开教学,以问题为导向,逐步引出厚度的重要性,解析厚度测量的方法和原理,具体讲解厚度的测量技术.教学内容由浅入深,推表及里,激发学生的思考,使学生更加深刻地掌握薄膜厚度概念及测量原理,同时在教学过程中引入领域科学前沿和思政元素,达到“教书”与“育人”的双重目的.

摘要：提出了一种多层1/4波长膜系的薄膜厚度监控系统的检测电路的设计方法,该方法采用了以锁定放大器为核心的检测电路。根据锁定放大器的工作原理,提出了利用锁定放大器检测微弱信号的实验方法,并指出了影响测量的几个参数。

摘要：文中提出了一种基于虚拟仪器的塑料薄膜厚度在线测量系统,主要介绍了测量系统的组成结构,基于电容传感器的塑料薄膜厚度测量系统的在线测量原理以及以数据采集卡PCI-M6220作为执行机构的运动控制系统的实现方案,并设计了接口板控制电路和虚拟仪器程序对系统的控制过程,并对系统准确性、传输误差和线性校正做了实验,实验证明该设计提高了原有系统的稳定性、可靠性和运行速度。

摘要：本文从理论上分析了薄膜SOI结构中反型层厚度与薄膜厚度的关系。为设计薄膜MOS/SOI器件引进了一个新的参数──薄膜整体反型临界厚度。分析认为,为使超薄膜MOS/SOI器件高速和高功率工作,有必要使薄膜厚度接近整体强反型临界厚度。

摘要：为解决薄膜生产过程中厚度在线检测问题,以提高产品质量和生产效率,对薄膜厚度在线测量系统进行了研究。基于光学三角法测量原理,以ARM920T为核心处理器、嵌入式Linux为操作系统,构造了系统的软硬件平台,并介绍了系统的硬件组成和软件设计方法。实际生产过程应用表明,该系统能够实现薄膜厚度的在线动态检测和非接触测量,具有高速度、高精度、人机界面友好等特点,在微小厚度变化量的检测领域具有广阔的应用前景。

摘要：为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统。以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量薄膜厚度的原理与可行性。用汞灯标准谱线对光学多道分析器进行定标,通过自制的石英光纤束探头照明和采集干涉图谱,经光学多道分析器与计算机处理获得薄膜反射干涉相消光波长,计算得到光学薄膜厚度。测量系统通过对手机屏幕贴膜和不干胶薄膜样品的涂层厚度测试,可以监测纳米量级的薄膜厚度。

摘要：基于电容传感器的塑料薄膜厚度检测方法是一种非接触测量手段,可实现在线不间断测量。给出了系统的结构框图及工作方式,阐述了电容传感器测厚的原理,针对极板间距变化引起的测量误差,提出了双涡流传感器振动补偿方案,提高了系统的测量精度。还对软件实现的功能作了介绍。最后给出了实际的测量数据,验证了振动补偿的有效性和系统的可靠性。

摘要：介绍了红外透射式检测原理,以TMS320F2812为主控芯片设计了薄膜厚度信号的采集计算系统,主要包括信号采集、信号调理、A/D转换,数据处理、串口通信等,设计了人机交互系统来实现数据的实时显示.实验结果表明,基于红外技术的薄膜测厚系统能够实现对薄膜厚度的实时检测,具有精度高,抗干扰性强,人机界面友好等特点,功能和指标都达到了设计要求.