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嵌入式存储器内建自测试时间的优化
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《中国集成电路》2013年 第6期22卷 31-34页
作者：王长弘 万培元 林平分北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室北京100124 
存储器测试是集成电路测试的重要部分。随着集成电路存储器件向着高集成度发展,存储器测试成本在集成电路总测试成本中所占比例急剧增高。通过减少存储器测试时间来减小存储器测试成本,是一种高效的降低芯片测试成本的方法。本文以一款...
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