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全定制芯片的测试码产生方法
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《航空计算技术》2008年 第6期38卷 92-94,98页
作者：邓勤学 李少青 陈绥阳国防科学技术大学湖南长沙410073 西安思源学院陕西西安710038 西安交通大学陕西西安710049 
针对全定制设计的芯片提出人工产生测试码的方法。该方法充分利用功能验证程序,从中挑选出对测试有用的信息,经过转换得到满足基本故障覆盖的测试码;再结合芯片自身的结构特点,合理利用芯片内部的调试结构,并按功能部件利用调试链路追...
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